Höchster Durchsatz bei niedrigsten Testkosten. Für verschiedenste elektronische Produkte einsetzbar.
Hoher Durchsatz, Multifunktionstestfähigkeiten und vollautomatische Abläufe machen SPEA Nadelbett- und Flying-Probe-Tester zur ersten Wahl für weltweit führende Unternehmen im Bereich Electronic Manufacturing Service und Contract Electronic Manufacturing. Es ist daher nicht überraschend, dass die größten sieben EMS-Anbieter sich auf SPEA-Tester verlassen, um ihre Produkte zu testen und so vom höchstmöglichen Durchsatz und den geringstmöglichen Testkosten zu profitieren.
SPEA-Tester wurden entwickelt, um unterschiedlichste Testanforderungen abzudecken, wie:
- Höchstmöglicher Durchsatz: Ein einziger SPEA-Tester ist nachweislich so leistungsfähig wie 2 bis 6 der besten Standardsysteme am Markt und testet erfolgreich Millionen von Leiterplatten pro Jahr
- Vollständige Kontaktierbarkeit von Boards mit hoher Dichte und kleinen Bauteilen. Für den Test von Baugruppen mit hohen Packungsdichten und ultrakleinen Bauteilen wie 01005 oder 008004 sind Flying-Probe-Tester von SPEA aufgrund ihrer einzigartigen Präzision und Geschwindigkeit die beste Wahl
- Ultraschnelles Board-Handling: Be- und Entladen des Boards in weniger als 3 Sekunden
- Vollständige Rückverfolgbarkeit: SPEA-Tester können Testdaten anderen Standorten oder Dritten MES zur Echtzeit-Produktionsüberwachung zu Verfügung stellen
- Vollständig konfigurierbar und Nachrüstung vor Ort möglich, um das System an geänderte Testanforderungen anzupassen
- Eine große Bandbreite an Testtechniken: SPEA-Tester können verschiedenste Testtechniken durchführen und so 100 % aller elektrischen und mechanischen Bauteile und Funktionen testen
- Schnelle Applikationserstellung: Das Erstellen von Testprogrammen dauert nur wenige Stunden und nicht mehr Tage. Die Systemsoftware kann Baugruppendaten in allen CAD-Formaten importieren
- Skalierbarkeit des Systems: Alle SPEA-Geräte basieren auf einer modularen, offenen Architektur, die es ermöglicht, sie vor Ort mit neuen Funktionen aufzurüsten, um die sich ständig weiterentwickelnden Testanforderungen zu erfüllen
- Schnelles paralleles Flashen von programmierbaren ICs durch das Testsystem
