Januar 19, 2023

Entdecken Sie SPEA auf der NEPCON Japan 2023

Wir freuen uns, Ihnen mitteilen zu können, dass SPEA an der NEPCON Japan 2023 teilnehmen wird. Die NEPCON Japan wurde vor mehr als 30 Jahren ins Leben gerufen und ist zusammen mit der japanischen und asiatischen Elektronikbranche gewachsen. SPEA wird seine hochmodernen automatischen Testsysteme (ATE) als Mitaussteller seiner Vertriebspartner Techno Alpha Co., Ltd. an Stand 25-54 und Test Data System Co., Ltd. an Stand 17-39 präsentieren.

 

Hier ein kleiner Vorgeschmack darauf, was Sie auf der Veranstaltung erwartet:

 

4050

Durch die Kombination von 4 Hochgeschwindigkeits-Flying Test Heads der Oberseite mit zusätzlichen Testtools für die Kontaktierung der Unterseite des Boards, kann der 4050 als automatischer 4x Flying Probe-Multifunktionstester eingesetzt werden. Das erhöht den Durchsatz und die Präzision.

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DOT800T

Der innovative Power Halbleitertester bietet eine Komplettlösung für Leistungsgeräte, indem alle Ressourcen in einer einzigen Maschine kombiniert werden, um ISO-, AC- und DC-Tests für eine gesamte Bandbreite von Leistungshalbleitern durchzuführen.

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Wecken Sie Ihre Neugier und treffen Sie unser fachkundiges Expertenteam vom 25. bis 27. Januar 2023. Wir ermitteln gerne gemeinsam mit Ihnen, welche SPEA-Lösung für Sie die beste ist!

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