Volpiano (Italy)

August 10, 2022

Neue Boundary-Scan-Optionen von JTAG Technologies für SPEA-Testgeräte

Erhöhen Sie Ihre Testabdeckung

SPEA und JTAG Technologies geben ihre technologische Zusammenarbeit bekannt, um die Integration von Boundary-Scan-Optionen in Flying-Probe- und Nagelbett-Testgeräten deutlich zu verbessern.

Die Kombination von In-Circuit-Tests und Boundary-Scan-Technologie kann die beste Lösung sein, um die Qualitätsanforderungen vieler hochintegrierter digitaler Designs zu erfüllen: Viele der modernen PCB-Baugruppen enthalten ein oder mehrere Geräte mit einer JTAG-Schnittstelle. Dies ermöglicht typischerweise die Ansteuerung und das Abtasten von Netzen auf der Leiterplattenbaugruppe, an die die I/O-Pins der Geräte mit JTAG angeschlossen sind, ohne dass ein physischer Zugriff auf diese Netze und Pins erforderlich ist. Durch das Hinzufügen von Boundary-Scan-Funktionen zu In-Circuit-Tests wird die Fehlerabdeckung von Verbindungen, Logikbauteilen und passiven In-Signal-Komponenten erhöht. Außerdem werden dadurch häufig die Kosten für die Befestigung von Nagelbettsystemen gesenkt, da die Anzahl der Teststellen reduziert wird.

Für die SPEA-Familien von Flying-Probe- und Nagelbett-ICT-Testern sind jetzt neue Boundary-Scan-Controller von JTAG Technologies erhältlich.

Basierend auf der sehr erfolgreichen JT37x7-Architektur von JTAG Technologies wurde eine neue Version des QuadPods (JT2147/SAM/FXT-3030) entwickelt, die perfekt in das Systemrack eines 3030 passt.

Für die Integration in die 40×0-Flying-Probe-Tester wurde ein komplett neuer Controller (JT3703/USB) entwickelt. Dank seiner kompakten Abmessungen kann er an einer der Flugachsen angebracht und an eine Mehrfachsondeneinheit angeschlossen werden.

Die Integration beschränkt sich nicht auf das Hinzufügen des Controllers von JTAG Technologies zur Testerkonfiguration: Die Entwicklung von Testanwendungen und die Testausführung wurden vollständig optimiert, um redundante Tests zu vermeiden, und können vollständig über die Betriebssystemsoftware SPEA Leonardo durchgeführt werden.

Vorteile:

• Erhöhte Testabdeckung
• Reduzierte Testzeit bei Flying Probe-Testern mit optimiertem BSC+FPT Testprogramm
• Reduzierte Handhabung der Platte
• Die Testbetreiber sind bereits mit SPEA Leonardo GUI vertraut
• SPEA Digitalkanäle in Kombination mit Boundary-Scan-Ansteuerung und -Abtasten
• Reine Boundary-Scan-Anwendungen können bereits validiert und verwendet werden, bevor die Befestigungselemente verfügbar sind
• Zielplatten können mit weniger Testpads getestet werden

Möchten Sie mehr über die Boundary-Scan-Optionen auf SPEA-Testgeräten erfahren? Dann kontaktieren Sie uns >