Hoher Durchsatz. Hohe Fehlerabdeckung.
Vollständig kompatibel mit dem SPEA 3030 Inline

 

SPEA 3030 Compact extended

MULTI-CORE-INLINE-KOMPATIBLER BOARDTESTER

 

 

Highlights

 

  • 2-fach Paralleltest
  • Kontaktiereinheit kompatibel mit SPEA 3030 Inline
  • Parametrischer High-Speed-ICT
  • Automatische Applikationsentwicklung
  • Vielfältige Prüfverfahren

Vollständig kompatibel mit dem SPEA 3030 Inline

 

Der SPEA 3030 Compact extended ist ein kostengünstiger Nadelbett-Tester mit manuellem Handling, der kompatibel zum SPEA 3030 Inline ist. Adapter, Andruckeinheit und Testprogramm können schnell und einfach vom SPEA 3030 CE auf den Inline-Tester portiert werden – und umgekehrt. Der Tester ist modular aufgebaut, kundenspezifisch konfigurierbar und dank der Dual-Core-Paralleltests ermöglicht er den doppelten Durchsatz. Er bietet vielfältige Prüfverfahren und Testmöglichkeiten sowie eine 100%ige Fehlerabdeckung.

Paralleltests

Der SPEA 3030 Compact extended kann mit bis zu 2 Cores ausgestattet werden, jeder davon mit unabhängiger CPU, lokalem Speicher und Instrumentierung. Damit können parallel bis zu 2 Baugruppen geprüft werden.

Übernahme von Adaptern und Testprogrammen auf den SPEA 3030 Inline

Kontaktier- und Andruckeinheit und Testprogramm sind vollständig kompatibel zum SPEA 3030 Inline. Sie können ihre Produktion von einem System mit manueller Bedienung schnell und einfach auf ein vollautomatisches System umstellen und umgekehrt, je nach Produktionsbedarf.

PC-unabhängige Architektur

Bei der PC-unabhängigen Architektur des SPEA 3030 läuft das Testprogramm in der CPU des Testers und die Testgeschwindigkeit wird von dieser bestimmt. Dadurch ist auch sichergestellt, dass PC-Hintergrundprogramme die Testgeschwindigkeit nicht beeinflussen. Darüber hinaus kann der PC jederzeit aktualisiert oder ausgetauscht werden, ohne dass ein erneutes Debugging von Testprogrammen notwendig ist.

Paralleles Flashen mehrerer Komponenten

Der SPEA 3030CE kann mit einem oder mehreren Flashing- Modulen bestückt werden. Damit können gleiche und auch unterschiedliche Komponenten parallel programmiert werden. Flashen-Zeiten und Kosten werden erheblich reduziert.

Präzise Kontaktierung mit Receivern von SPEA

Die Kontaktiereinheiten sind direkt im Testsystem integriert. Das bedeutet es gibt keine störenden Kabel zwischen den Systemmodulen und der Adaption. Die Signalintegrität ist garantiert. Testsystem und Adaption werden von SPEA als zuverlässige und kostengünstige schlüsselfertige Testlösung geliefert.
Die Kontaktierung der Baugruppe ist sicher und präzise. Beim elektromechanischen SPEA-Schubladenreceiver kann die Andruckgeschwindigkeit prüflingsspezifisch eingestellt werden.
Die Absenkung erfolgt immer absolut planar. Der Kontaktierlevel ist in Schritten von 100 µm frei programmierbar. Dadurch können unterschiedliche Kontaktierebenen realisiert werden, beispielsweise für die 2-Stufenkontaktierung beim Funktionstest.

Parametrischer ICT in Höchstgeschwindigkeit

Der parametrisch-dynamische High-Speed ICT des SPEA 3030 Inline prüft die Parameter jedes einzelnen Bauteils gemäß Datenblatt. Diese Tests werden mit Hilfe von Bauteilbibliotheken automatisch generiert. Das bedeutet kurze Programmerstellungszeiten, kurze Testzeiten und höchste Fehlerabdeckungsraten.

Testperformance

 

  • True-Per-Pin-Architektur
    Garant für zuverlässige Tests komplexer analoger oder digitaler Baugruppen ist die direkte Pinelektronik von SPEA. Nicht gemultiplext stellt die Pinelektronik an jedem Kanal (1:1) einen völlig unabhängigen Stimuli- und Messkanal bereit. Das bietet mehrere Vorteile: schnellere Testgenerierung, einfaches ECO-Management, volle Flexibilität.
  • Open-Pin-Erkennung
    Es stehen zwei unterschiedliche Testtechniken zur Verfügung, um ungelötete Pins (Open Pins) und andere Prozessfehler eindeutig zu identifizieren: Electro Scan und Junction Scan.
  • Funktionstest
    Der SPEA 3030CE bietet nicht nur Funktionstests auf Bauteilebene, sondern auch auf Cluster- und Boardebene. Die Parametrierung erfolgt in der Systemsoftware Leonardo oder wahlweise mittels höherer Programmiersprachen wie Microsoft C++, Visual Basic, Borland, Delphi, LabView usw.
  • Kundenspezifisch konfigurierbar & flexibel nachrüstbar
    Die kompromisslose Flexibilität unserer Tester gewährleistet eine individuelle Konfiguration, die den jeweiligen Testanforderungen optimal entspricht. Entweder Sie konfigurieren Ihren Tester komplett beim
    Kauf oder sie rüsten sukzessive nach – alles ist möglich. Messinstrumente von Drittanbietern können ebenfalls problemlos integriert werden. Herausragend sind die vielfältigen Adaptionsmöglichkeiten wie zum Beispiel Schubladenreceiver, Steckerinterface. Inline-Kontaktiereinheit, Pylon-Interface aber auch kundenspezifische Schnittstellen oder Receiver von Drittanbietern (Genrad, Ingun, Zentel, usw.).
  • Boundary Scan
    Boundary Scan wird eingesetzt wenn ein physikalischer Zugriff auf einzelne Schaltungsteile nicht möglich ist. So können hochkomplexe Baugruppen, Fine-Pitch-Technologie, Multilayer und BGAs ohne direkte Kontaktierung der Prüfnadeln getestet werden. Der parallele Einsatz der Boundary Scan-Technik und der Systemmodule des SPEA 3030 Compact Extended ermöglicht eine breitere Fehlerabdeckung bei gleichzeitiger Reduzierung der Adapterkosten (virtuelle Testpunkte anstelle von realen Testnadeln).

Leonardo. Einfach. Schnell. Automatisiert

 

  • Automatische Testprogrammerstellung innerhalb von Minuten
  • Automatisches Debugging & Tuning
  • Minimale Kosten für die Applikationserstellung: automatische Generierung der Daten für die Adaptererstellung
  • Automatische Erkennung und Import von CAD-Daten
  • Automatische Erzeugung des Test-Reports
  • Benutzerfreundliche, intuitiv bedienbare, grafische Benutzeroberfläche
  • Produktionsüberwachung und -analyse in Echtzeit

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