Kosteneffiziente Multi-Site-Produktionstests
C600MX

ANALOG MIXED SIGNAL TESTER
88 Steckplätze für PE-Signalverarbeitungsinstrumente
& VI-Quellen

Highlights

 

  • 88 Steckplätze für PE-Signalverarbeitungsinstrumente und VI-Quellen
  • Floating Architektur
  • Multi-Core-Fähigkeit
  • Analoge Pins
  • Digitale Pins
  • Instrumente zur Signalverarbeitung
  • Hochspannungs- und Starkstrominstrumente

Floating Architektur

  • Unabhängig von der PC-Leistung: Mehrere SPEA -CPUs sorgen für das Testprogramm-Timing. Ein Austausch des PC macht keine Neuqualifikation des Testprogramms nötig.
  • Multi-Core-Architektur: Es ist möglich, 2 unabhängige Testprogramme gleichzeitig und asynchron zu entwickeln und auszuführen
  • Pattern basierte Programmierung: 30 % Testzeiteduzierung im Vergleich zu anderen am Markt befindlichen Testern.
  • 64-kanäliger Synchrobus und 16-kanäliger Hochgeschwindigkeits-Synchrobus zur Echtzeitsynchronisierung von Instrumenten: keine systembedingte Verzögerung bei Pattern basierten Tests
  • 99 % Effizienz beim Paralleltest
  • Multi-Site-Testmöglichkeiten für bis zu 256 Prüflinge gleichzeitig
  • Floating Instrumente mit high density für echte parallele Analogtests
  • Universelle Steckplatzarchitektur, bis zu 1.408 Kanäle
  • RF-Generatoren bis zu 3 Ghz

Analoge Pins

  • 1 SPEA-Board ersetzt 4 Boards anderer Hersteller
  • Komplett floatend und getrennt für Treiben und Messen pro Kanal
  • Großer Spanungs-/Strombereich: ± 100V / ± 1A, ± 20V / ± 2A, ± 20V/500 mA
  • 32 DVM-Sampler in Readback, völlig unabhängig und floatend
  • 8 DVMs an der Schnittstelle um zusätzlich an anderen Punkten als der Quelle zu messen
  • Clampalarm, Spike-Detektoren, automatischer Rampengenerator
  • Signalgeneratoren (AWG) und Zeitmesseinheiten pro Kanal

Digitale Pins

  • Die Testzeit für die Timing-Messung liegt bei nur 1/8 der Zeit, die andere Hersteller für die Berechnung digitaler Daten und Protokollmanagement benötigen
  • Frequenz 200 MHz
  • 16 MB Pattern pro Kanal, kann gebündelt werden
  • Spannungsbereich -2 bis + 6,5 V oder – 2 bis 14 V
  • Aktive Last im digitalen Pin integriert
  • Integriertes DPS (-2 bis +24 V, ± 500 mA)
  • 8 integrierte Timing-Messeinheiten (mit der Möglichkeit mehrerer Zeitmessungen auf demselben Kanal)
  • Integrierte programmierbare Logikeinheiten (PLU)

Instrumente zur Signalverarbeitung

  • Oktal-Sampler & DSP für die Echtzeit-Datenerfassung und -verarbeitung: 16 Bit HF, 24 Bit Audio BW
  • Vier-Kanal AC-Generator: 14 Bit HF, 20 Bit Audio BW
  • Verschiedene analoge Tiefpassfilter
  • Integrierte DSPs für schnelle Signalverarbeitung
  • Waveformgenerator mit hochpräziserm Audiosektion und der Möglichkeit, benutzerdefinierte Wellenformen zu erzeugen
  • Zähler für Zeitmessungen bei Hochspannungssignalen (±100 V) und nichtperiodischen Signalen – one shot-Zeitmessungen

Hochspannungs- und Starkstrominstrumente

  • 8 Starkstromquellen: 1000 A gepulst oder 20 A kontinuierlich
  • 8 Hochspannungsquellen: ±2500 V
  • Sichere Isolierung an der Schnittstelle des Testkopfes (Instrumente im Instrumentengehäuse)
  • Hochspannungs- und Starkstromgeneratoren von SPEA
  • Eingebettete CPUs für Sicherheitssteuerung und schnelle Programmierung
  • Clampalarm, Spike-Detektoren, automatischer Ramengenerator

Migration zu SPEA CMX

 

  • Parallelität: 2 x
  • Testzeit: 1/2
  • 50 % Reduzierung bei Handlern und Probe
Testprogrammerstellung & Debugging < 1 Tag

 

  • Einfach zu erlernende Programmierumgebung
  • Geführte Testprogrammerstellung
  • Die automatische Code-Generierung verkürzt die Zeit für Entwicklung, Debugging und
  • Freigabe des Programms drastisch.
  • Automatischer Datenimport
  • DUT- & Instrumentenorientierte Befehlsbibliotheken
  • DUT Map
  • Sehr schnelle Anwendungsentwicklung (VRAD)
  • Testergebnis-Analysator
  • Shmoo Plot
  • Einfach zu betreiben. Einfach zu überwachen. Einfach zu warten.
Anwendungsbereiche

SoC's

PMIC

SPEA MEMS Test

MEMS

Medizintechnik

Identifizierung

Power

Beleuchtung

Automobilindustrie

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