Highlights
- Kosten pro Pin <100 USD
- Dedizierte CPU pro DUT
- Eine einzige Karte mit allen A/D-Ressourcen zum Testen eines DUT
- Bis zu 1.152 analoge/digitale Kanäle
- Integration in MEMS-Stimulus, Hard-/Soft-Docking mit Handler/Prober, Nutzung als Tischgerät
MEMS-spezifisches Testsystem
Wir haben einen Tester in Postkartengröße entwickelt.
Orientieren sich Ihre Testanforderungen an definierten Produktfamilien mit gemeinsamen Merkmalen? Sie brauchen keinen teuren, universellen Mixed-Signal-Tester zu kaufen: Sie können sich auf den SPEA DOT 100 verlassen, ein System, das entwickelt wurde, um die Testanforderungen von MEMS und anderen Prüflingen mit geringer Pin-Anzahl zu unglaublich niedrigen Kosten zu erfüllen.
Der DOT 100 basiert auf einer revolutionären Per-Device-Architektur: Jedem zu testenden Prüfling wird eine eigene CPU zugeordnet, die den gesamten Testprozess verwaltet. Jede Karte, obwohl nur so groß wie eine Postkarte, beherbergt alle Ressourcen für den parallelen Test von 6 Prüflingen.
Das alles findet sich in einem Gerät in handlicher Größe, welches in den SPEA MEMS Stimulus integriert, fest oder per Kabel verbunden mit Prober oder Handler, oder als Tischgerät genutzt werden kann.
Schneller Multi-Site-Paralleltest
Schneller Multi-Site-Paralleltest
- Dedizierte CPU pro Core
- Bis zu 1.152 analoge/digitale Kanäle
- Stromversorgung und Zeitmesseinheit pro Prüfling
- Pattern-Memory pro Kanal (30 Mstep)
- Asynchrones digitales Arbeiten
- programmierbare Logikeinheiten-PLU (SPI, I2Cbus, Uart, IO-Port)
Elektronik mit ultrahoher Pin-Dichte
Elektronik mit ultrahoher Pin-Dichte
Das Herzstück der DOT-Tester ist eine Pinelektronik, die 48/96 Kanäle in 3/6 unabhängigen Sektionen zur Verfügung stellt.
Jede Sektion beinhaltet:
- 8 digitale Kanäle @ 5 MHz & 8 analoge Kanäle (DPS) mit bis zu 10 V; 256 mA (Treiber und DVM je Pin)
- 8 digitale Kanäle @ 50 MHz + 1 analoger Kanal (Treiber und DVM gemultiplext)
- 2 Zeitmesseinheiten
Konzept für vollständig paralleles Endtesten
Konzept für vollständig paralleles Endtesten
SPEA-Testzellen führen am Ende des Produktionsprozesses alle parametrischen und funktionellen Tests an den endverpackten DUTs durch.
Nach dem Test können die Produkte direkt an die Kunden versandt werden, ohne dass eine weitere Bearbeitung oder ein erneuter Test erforderlich ist.
Testprogrammerstellung & Debugging < 1 Tag
- Einfach zu erlernende Programmierumgebung
- Geführte Testprogrammerstellung
- Die automatische Code-Generierung verkürzt die Zeit für Entwicklung, Debugging und Freigabe des Programms drastisch
- Automatischer Datenimport
- DUT- & Instrumentenorientierte Befehlsbibliotheken
- DUT Map
- Sehr schnelle Anwendungsentwicklung (VRAD)
- Testergebnis-Analysator
- Shmoo Plot
- Einfach zu betreiben. Einfach zu überwachen. Einfach zu warten.
