Zwei Tester in einem,
100 % Testeffizienz

Mehr als 5.000 Kanäle in einem System mit minimaler Stellfläche

Semiconductor test - Analog Mixed Signal Tester - DOT800 SPEA

Der SPEA DOT800 kombiniert die Funktionen von zwei herkömmlichen Testern in einem System, das lediglich die Größe des Testkopfs beansprucht. Die innovative, bauteilorientierte Instrumentierung vereint sämtliche Ressourcen, die für die Durchführung von Analog-, Digital- und Signalverarbeitungstests erforderlich sind, auf einem einzigen, leistungsstarken und konfigurierbaren Board. Die unschlagbare Testperformance bietet eine Effizienz von mehr als 99,5% bei Paralleltest für eine Vielzahl von Komponenten.

Anwendungsbereiche

Automotive

Leistungselektronik

MEMS & Sensoren

Konsumer & Mobilität

Digital & Mixed Signals

MCU

Medizintechnik

Leistungs- und diskrete Bauteile

Linear

SerDes-Bausteine

Industrie

HF & Wireless

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Multi-Core-Architektur

 

Der SPEA DOT800 besteht aus zwei voneinander unabhängigen Kernen (in einem Volumen von weniger als 0,3 m3). Jeder Systemkern ist mit einer dedizierten, unabhängigen CPU ausgestattet, um das Testprogramm vollständig asynchron auszuführen. Das garantiert beste Paralleltest-Effizienz.

Diese Systemarchitektur bietet große Vorteile – hinsichtlich der Markteinführungszeit von Produkten als auch der Testgeschwindigkeit.

PARALLELE PROGRAMMIERUNG

Beschleunigen Sie Ihre Testprogrammentwicklung: 2 Ingenieure können gleichzeitig Testprogramme auf demselben System entwickeln.

PARALLELER TEST UNTERSCHIEDLICHER DUTS

Ein Testsystem kann zwei verschiedene Applikationen gleichzeitig und völlig asynchron ausführen.

PARALLELER TEST VON UNTERSCHIEDLICHEN IPS

Das System kann zwei verschiedene Testprogramme gleichzeitig und asynchron für 2 verschiedene IPs desselben Prüflings ausführen.

Das Testsystem in einem Board

 

Die SPEA DOT800-Instrumentenarchitektur vereint sämtliche Ressourcen, die für die Durchführung von Analog-, Digital- und Signalverarbeitungstests erforderlich sind auf einem einzigen, leistungsstarken Board. Es beinhaltet mehrere CPUs, DSP-Module und programmierbare Logikeinheiten für maximale Leistung bei Multi-Site-Tests. Dank diesem konfigurierbaren Tester-in-a-Board-Modul können Sie den SPEA DOT800 mit Instrumenten eines Typs bestücken, so dass Systemzusammensetzung, Programmierung und Wartung erheblich vereinfacht wird bei gleichzeitig maximal möglicher Testperformance.

Semiconductor Test - Mixed Signal Tester - Instrumentation SPEA

Direktes Docking

 

Der Prüfling wird ganz einfach lediglich über eine ProbeCard mit dem SPEA DOT800 verbunden. Mehr ist nicht notwendig. Separate Load Boards oder Pogo-Tower-Elemente sind nicht erforderlich. Das reduziert Hardwarekosten und Entwicklungszeit und gewährleistet gleichzeitig eine bessere Signalintegrität -auch bei dem Wafer-Prober- da die Anzahl der Komponennten zwischen der Pinelektronik des Testers und dem Prüfling auf ein Minimum reduziert ist.
Der SPEA DOT800 kann problemlos mit den wichtigsten Prober-Modellen am Markt eingesetzt werden. Das automatische Laden und Koppeln der Probe-Cards verbessert die Effizienz der gesamten Testzelle, da auch eine Planaritätskontrolle und eine automatische Verriegelungsverifizierung durchgeführt wird. Das Andocken an Wafer-Prober ist sowohl auf der linken als auch an der Rückseite möglich – mit demselben Adapter. Dies macht die Handhabung unkompliziert und flexibel.

PC-unabhängige Leistung

Zero-Impact Windows®-Betriebssystem-Upgrade oder PC-Austausch

 

Um immer die beste Effizienz zu gewährleisten, sind die DOT800-Leistungen völlig unabhängig vom als Systemcontroller verwendeten PC und der installierten Softwareversion.

Das Timing für die Programmierung der Instrumente wird parallel von mehreren dedizierten Hochfrequenz-SPEA-CPUs generiert, so dass die Testprogramme beim Aktualisieren des Windows®-Betriebssystems oder beim Ersetzen des PCs nicht neu qualifiziert werden müssen.

Keine erneute Qualifizierung bei einem Software-Update

 

Die Systemsoftware des SPEA DOT800 erlaubt die gleichzeitige Installation unterschiedlicher Softwareversionen, einschließlich deren Patches. Beim Starten eines Testprogramms, identifiziert der Tester automatisch die Softwareversion, die zum Generieren des Programms verwendet wurde und führt das Testprogramm mit der richtigen Version aus.
Auf diese Weise verfügen Sie immer über die neueste und leistungsstärkste Softwareversion und können trotzdem Ihre bereits vorhandenen Testprogramme problemlos weiter verwenden.

Leistungsstarke Test-Instrumente

für herausragende Performance

LPE Serie

Das Testsystem in einem Board

 

LPE ist ein revolutionäres Multiprozessor-Multifunktions-Board, basierend auf einer, modularen Architektur, die analoge, digitale und signalverarbeitende Funktionen integriert. Ein echtes Testsystem für einen oder mehrere DUTs, auf einem einzigen Board, bestehend aus einem Controller, vier Matrixkarten und bis zu vier verschiedenen frei wählbaren Channel-Boards. So können Sie die perfekte Performance für Ihre Testanforderungen wählen. Bis zu 256 Kanäle stehen an einem einzigen Steckplatz zur Verfügung.

CDG

AWG & Digitizer Module für LPE

CDG-Module sind 4-Kanal-Boards, die die LPE-Leistung mit LF- und HF-AWGs und Digitzer ergänzen.

DYLPS

Low Power V/I-Quelle

DYLPS200 ist ein hochpräziser Strom- und Spannungsgenerator für kleinere Leistungen, mit 32 Kanälen und Readback-Digitizer (64 Ausgänge: 32 Kanäle, 1:2 gemultiplext). Jeder Kanal kann bis zu 160 V und 9,6 A erzeugen.

HPE

Medium Power V/I-Quelle

HPE 100 ist ein 4-Quadranten-Stimuli mit 16 floatenden Kanälen, parallel und in Reihe schaltbar. Es beinhalted die Quelle mit Readback- und einem hochpräzisen Digitizer, zur Signalerzeugung mittlerer Leistung von bis zu ± 100 V, 16 A.

HPES

Hochleistungs V/I-Quelle

HPES 100 ist ein 4-Quadranten-Stimuli mit 8 floatenden Kanälen, beinhalted die Quelle mit Readback- und einem hochpräzisen Digitizer, zur Signalerzeugung bis zu ±400V, 2A

SVM TRIM

Hochgenaue Messung kleiner Werte

SVM TRIM ist ein 256-Kanal-Modul für die hochpräzise Messung von kleinen Strömen (pA / µA), Kapazitäten (fF) und Spannungen (µV)

HOCHLEISTUNGSGENERATORE

Hochleistungsgeneratoren können Spannungen bis zu 20 kV erzeugen und messen (Messung des Leckstroms) und liefern gepulste Ströme bis zu 4 kA.

Benutzerfreundliche und intuitiv bedienbare Software. Entwickelt für Testingenieure.

 

Der SPEA DOT800 bietet die leistungsstarke Betriebssoftware ATOS C2, die neue Standards setzt in den Bereichen Testentwicklung, Einsatz in der Produktion und Wartungsmanagement.

Lassen Sie sich von der Testleistung und –effizienz des DOT800 überzeugen

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