Highlights
- Marktführer bei AC/DC-Tests in Massenproduktion
- Tests + Inline-Handling + Kontaktierung
- Powertestfähigkeiten bis 2500 V, 1000 A
- Niedrigste parasitäre Induktivität auf dem Markt
- Niedrige Betriebskosten
High Power Testperformance
Power-Instrumentierung
Power-Instrumentierung
- 2 Starkstromquellen: 1000 A gepulst oder 20 A kontinuierlich
- 1 Hochspannungsquelle: ±2500 V
- Hochspannungs- und Starkstromgeneratoren von SPEA
- Eingebettete CPUs für Sicherheitssteuerung und schnelle Programmierung
- Clampalarm, Spike-Detektoren, automatischer Rampengenerator
AC/DC-Tests mit einem einzigen Testsystem
AC/DC-Tests mit einem einzigen Testsystem
- Doppelstation für AC/DC-Tests
- Programmierbare Testsequenz mit der Möglichkeit, redundante Prüfungen durchzuführen (z.B. DC-AC; DC-AC-DC, …)
- AC-Testbereiche: 1000 V/800 A | 600 V/1200 A | 600 V/30 A
Niedrigste parasitäre Induktivität
Niedrigste parasitäre Induktivität
- Parasitäre Induktivität <60 nH (<25 nH): Überspannung ist immer niedriger als Durchbruchspannung
- Die Verbindungslänge wurde minimiert, um Streuinduktivität zu vermeiden
Automatisches In-Line-Handling
- SMEMA-In-Line-Integration
- Möglichkeit zur Ausstattung mit InLine Ein-/Ausgabemodulen und Puffern
- Handling aller Arten von Modulen, auch mit ungleichmäßigen Formen
- Die Transportrichtung und -geschwindigkeit sind per Software programmierbar
Rüstkit in weniger als 10 Minuten wechseln
Powermodul-Testzellen beinhalten alle notwendigen Einheiten, welche für Verbindung und Kontaktierung der Prüflinge notwendig sind.
- Produkte können von oben, unten oder von der Seite kontaktiert werden
- Das Kontaktiermodul ist schnell austauschbar: der Wechsel dauert weniger als 10 Minuten
Testprogrammerstellung & Debugging < 1 Tag
- Schnelle und geführte Testprogrammerstellung
- Spezifische Testmodell-Libraries für Powermodule
- Möglichkeit, die in den Testmodellen enthaltenen Parameter entsprechend den spezifischen Anforderungen des Prüflings zu verändern
- Auswahl und Bearbeitung von Sequenzen: Der Testablauf kann „On-the-Fly“ geändert werden, um Entwicklungs- sowie produktionstechnischen Anforderungen gerecht zu werden, ohne dass das Testprogramm bearbeitet werden muss
GERÄTE
Einphasen-Brückenschaltung
Dreiphasen-Brückenschaltung
Diodengleichrichter
IGBT-Modul
Power-MOSFET
Hochspannungs-IGBT Mosfet
Niederspannungs-IGBT-Mosfet
TECHNISCHE DATEN
| AC Test | DC Test | |||
|---|---|---|---|---|
| TdOn - Time delay on ON TdOff – Time delay on OFF Trise – Rise time Tfall – Fall time Eon – Energy ON Eoff– Energy OFF Qrr – Reverse recovered charge Erec – Reverse recovery energy ΔI/ΔTOn – On state Current slew rate ΔI/ΔTOFF - Off state Current slew rate ΔV/ΔTOn - On state voltage slew rate ΔV/ΔTOff – Off state voltage slew rate Vrr – Voltage reverse recovery Rgate/Cgate IRM – Peak reverse recovery current Trr – Reverse recovery time IFRM – Repetitive peack forward current Short circuit test | NTC temistor check IGES – Gate Leakage current VGETh – Threshold voltage Rgate Internal gate resistance Cies - Gate – Emitter capacitance Cres - Transconductance Coes – Output capacitance Gate Charge (Qg) VBr – diode Breakdown test ICES – Collector leakage current Rgate/Cgate VF – Forward diode voltage VCESat – Saturation voltage |
