Die beste Art zu testen!
Das Einsatzspektrum der SPEA Testsysteme reicht von Mikrochips über Baugruppen bis hin zu Backplanes und kompletten Elektronikanlagen. Unsere Systeme sind in allen Hightech-Bereichen zu finden. Dazu gehören die Luft- und Raumfahrt, Automobilindustrie, Medizintechnik, Sicherheitstechnik, Konsumerelektronik und Telekommunikation.
Kreativität und Innovation. Seit 1976 entwickelt und produziert SPEA automatische Testsysteme für Halbleiter-ICs, MEMS und Elektronikbaugruppen. Dank kontinuierlicher Weiterentwicklungen und hohen Qualitätsstandards gehören wir zu den führenden ATE-Anbietern.
Ob in Fahrzeugen, Smartphones, Tablets oder in hochkomplexen Geräten für Luft- und Raumfahrt, Sicherheitstechnik oder Medizintechnik. Mit unseren Systemen leisten wir einen Beitrag zu Ihrem Erfolg und bieten Ihnen optimale Lösungen zum effizienten Test Ihrer Komponenten.
Über uns
Seit 1976 entwickeln und produzieren wir innovatives Testequipment für alle Bereiche der Elektronikfertigung
Was macht SPEA?
In einer Welt, in der Elektronik in alle Bereiche unseres Lebens Einzug gehalten hat, ist von entscheidender Bedeutung, dass diese über ihren gesamten Lebenszyklus korrekt funktioniert.
SPEA-Systeme sind so konzipiert, dass sie jeden möglichen Defekt in elektronischen Produkten erkennen, damit diese ihre Aufgabe zuverlässig erfüllen.
Zur SPEA Produktpalette gehören auch professionelle Lösungen für die Automatisierung rund um den Semiconductor-Test. Wir bieten sowohl Test- als auch Automatisierungssysteme an. Die Produktreihe umfasst Testhandler H3000, COMPTEST MX und DOT-Tester.
Wir gehören zu den führenden Anbietern im ATE-Bereich, sind weltweiter Marktführer für Flying Probe-Systeme und die europäische Nummer 1 im ICT-Bereich. Unsere Systeme sind weltweit im Einsatz und tragen wesentlich zum Erfolg unserer Kunden bei. Dabei spielen Themen wie höchste Fehlerabdeckung und Testgeschwindigkeit sowie Produktivität und Testkostenreduzierung eine wesentliche Rolle.
Unser Ziel ist, jederzeit das bestmögliche Ergebnis für Sie zu erreichen. Bereits in der Planungsphase arbeiten wir eng mit Ihnen zusammen, um effiziente Teststrategien und Systeme zu entwickeln, die genau zu Ihnen passen. Wir entwickeln innovative Lösungen zum Testen neuester Technologien und wir legen die Grundlagen für die nächste Generation von Testsystemen für MEMS, ICs und Elektronik-Baugruppen.
Über 11.000 Systeme
weltweit installiert
Über 40 Jahre Innovation
Niedrige Testkosten, höchste Fehlererkennung, Prüfmethoden für den Test neuester Technologien, vollständige Konfigurierbarkeit. Für SPEA-Kunden stellen die Tests keine zusätzlichen Kosten, sondern einen Wettbewerbsvorteil dar.
Der Erfolg von SPEA resultiert aus einer Mischung aus Erfahrung, Knowhow, kontinuierlichen Investitionen in Forschung und Entwicklung und einem strategischen Verständnis. SPEA ist der einzige ATE-Hersteller, dessen Produktportfolio alle Testphasen bedient. Vom Test von Halbleiterwafern bis zu Mikrochips in Gehäusen und MEMS-Sensoren, vom In-Circuit- und Flying-Probe-Test auf bestückten Baugruppen bis hin zum abschließenden Funktionstest.
Daraus ergeben sich wesentliche Vorteile: Die besten Ideen werden auf unterschiedliche Bereiche übertragen. Das senkt Kosten und Entwicklungszeit. Das Ergebnis sind Systeme, die die perfekte Lösung für die unterschiedlichsten Anforderungen bieten.
Die Jahrzehnte im Überblick
1976
1976
SPEA wurde 1976 gegründet. Damals öffnet sich die Welt der Elektronik für die Informatik und ermöglicht den breiten Einsatz von PCs, was wiederum einen großen Innovationsschub zur Folge hat.
Die Idee des SPEA-Gründers Luciano Bonaria (ein junger Testingenieur bei General Electric) ist es, Standardgeräte zum Testen elektronischer Geräte zu entwickeln und diese an Baugruppenhersteller zu verkaufen. Dies war der erste Schritt einer Erfolgsgeschichte, die auf Know-How und kontinuierlichem Wachstum basiert.
1980
1980
Der Erfolg der ersten Tester für elektronische Baugruppen sorgte für ein schnelles Wachstum von SPEA und eine Expansion ins Ausland. Diese fand Ihren Beginn in Deutschland, Europas Wachstumsmotor.
In diesen Jahren wurden mehrere wichtige Produkte entwickelt: Digitest, der erste automatische ICT-Board-Tester für digitale Elektronik und Unitest 500, das erste Modell mit Multifunktionsarchitektur, welches den Grundstein für alle zukünftigen Produkte legte.
1990
1990
SPEA genießt einen guten Ruf im Bereich des Testens und wird das weltweit viertgrößte Unternehmen für Boardtester. Die Forschungs- und Entwicklungsabteilung arbeitet unter Hochdruck und entwirft Testsysteme modernster Technik, wie das Modell 4040, den ersten Flying-Probe-Tester von SPEA. Die innovativen Geräte des italienischen Unternehmens werden zum ersten Mal bei Halbleitertests eingesetzt und eröffnen neue und wichtige Entwicklungsszenarien.
2000
2000
Das neue Jahrtausend ist voller Veränderungen für die Welt der Elektronik, und SPEA ist hierfür gut vorbereitet. Die permanente Entwicklung innovativer Lösungen führt zu einem kontinuierlichen Wachstum des Unternehmens. Es übersteht die globalen Krisen glänzend und akquiriert renommierte Kunden, darunter Elektronikhersteller auf der ganzen Welt.
Einige der Kernprodukte von SPEA werden in diesen Jahren entwickelt: die erste MEMS-Testzelle für Mikro-Trägheitssensoren sowie das Modell SPEA 3030, die neue Plattform für Multifunktions-In-Circuit-Tests.
2010
2010
Das neue Jahrzehnt beginnt hervorragend: SPEA gehört zu den unangefochtenen weltweiten Spitzenreitern bei Testsystemen, sowohl in der Halbleiterindustrie als auch im Bereich elektronischer Baugruppen. Die Investitionen der letzten Jahre haben dazu geführt, dass SPEA den neuen ATE-Markt für Inertial-MEMS dominiert und die MEMS-Testausrüstung bereichert durch neue Ein-/Ausgabemedien (Tray, Bulk, Wafer/Streifen auf Band, Ausgabespule) und MEMS-Stimuli für eine Vielzahl von Geräten (Feuchtigkeitssensoren, Drucksensoren, UV-Sensoren, Näherungssensoren, MEMS-Mikrofone, magnetische Sensoren, Kombosensoren). SPEA bringt auch den 4080, einen 8-achsigen, doppelseitigen Flying-Probe-Tester auf den Markt, der eine beispiellose Kontaktier- und Testpräzision bei ultraschneller Testgeschwindigkeit gewährleistet.
