4 núcleos

5000+ Tests/Sec

Carga rápida de placas

Test paralelo

Testers 3030 ICT   

 

Características importantes

  • Test paralelo verdadero: rendimiento 4x
  • Velocidad de test ultrarrápida: el coste de test más bajo
  • Manejo ultrarrápido
  • Desarrollo automatizado de aplicaciones
  • Cobertura de fallas del 100%
  • Arquitectura por pin económica
  • Contacto preciso con receptor motorizado
  • Totalmente actualizable y personalizable
  • 1000+ sistemas 3030 instalados en todo el mundo

Test paralelo verdadero

Los testers de placas 3030 se pueden equipar con hasta 4 núcleos independientes, cada uno con CPU, memoria local e instrumentación independientes, capaces de testear en paralelo hasta 4 placas. En comparación con testers ICT estándar, la productividad de SPEA 3030 es hasta un 400% más alta, lo que minimiza el coste de los tests de placas. Además, con la opción Dual-Stage, los sistemas 3030 ofrecen diferentes técnicas de test al mismo tiempo (por ejemplo: In-Circuit + Funcional, In-Circuit + On-Board Programming, etc.), optimizando los tests entre las dos etapas y reduciendo aún más el tiempo y los costes.

Velocidad de test ultrarrápida

En comparación con el ATE estándar, la velocidad de test de 3030 es significativamente mejor. Una CPU dedicada en cada núcleo garantiza que no haya retardo entre instrumentación y PC. Relés de alto rendimiento provean un tiempo de conmutación rápido. La arquitectura de los instrumentos minimiza el tiempo de configuración de los instrumentos durante los tests. La posibilidad de realizar diferentes mediciones simultáneamente, con un solo núcleo de test, reduce aún más el tiempo de test.

Arquitectura por pin económica

Cada canal de 3030 es configurable por programa de test. Cada pincho se puede utilizar para realizar cualquier tipo de test. Esta relación instrumento/receptor 1:1 garantiza varios beneficios: generación de test más rápida, menaje ECO fácil, flexibilidad total.

Fixture & migración de programas de test

SPEA Common Architecture permite que los programas de test funcionen con todos los sistemas de tester de placas SPEA. Esto garantiza un movimiento rápido de tu producción de un sistema a otro, según las necesidades de producción. Pero también significa piezas de repuesto compatibles, menor coste de asistencia, entorno de software común. Además, para minimizar los costes de las aplicaciones y optimizar la utilización del sistema, la fixture 3030 In-Line es totalmente compatible con los sistemas manuales de 3030 y viceversa.

Olvida las devoluciones de campo

3030 ha sido diseñado para ayudar a los fabricantes de electrónica a aumentar la calidad de sus productos. Al realizar una gama completa de técnicas de test con sus instrumentos y estímulos de alto rendimiento, 3030 puede encontrar fallas de manera fiable que no pueden ser detectadas por un tester ICT estándar.

Totalmente actualizable y personalizable

3030 se puede equipar en fábrica o actualizar en el campo con todo tipo de instrumentación útil para satisfacer los requisitos de test. Es posible integrar la instrumentación de potencia (como generadores de CA/CC, cargas activas, matriz de poder, etc.) así como instrumentos de terceros para aumentar capacidades de test y productividad.

Arquitectura independiente de la PC

Con la arquitectura independiente de la PC de 3030 de SPEA, el programa de test reside en la CPU del tester y la velocidad del test está determinada por la CPU del sistema. Un antivirus y otras aplicaciones que están en ejecución en la PC no afectan la velocidad del test. Además, puedes cambiar/actualizar la PC en cualquier momento, sin tener que depurar otra vez el programa de test.

La programación es fácil, rápida y automática con el sistema operativo Leonardo

 

  • Generación automática de programas de test en minutos
  • Depuración y ajuste automático
  • Costes de desarrollo de aplicaciones minimizados: generación automática del archivo para la perforación y el cableado de fixtures
  • Reconocimiento & importación automáticos de datos CAD
  • Generación automática de reportes de test
  • Interfaz gráfica intuitiva y fácil de utilizar
  • Seguimiento y análisis de la producción en tiempo real

In-Circuit Test

Open Pin Scan

Power On Test

Functional Test

Flashing

Led Light Test

Boundary Scan

Built-In-Self-Test

Optical Test

Testers multifuncionales:
100% de cobertura con 1 equipo

 

Los testers de placas 3030 de SPEA han sido diseñados y fabricados para garantizar el perfecto funcionamiento de las PCB durante años, eliminando las devoluciones de campo. ¿Como hacemos eso? Testando el 100% de componentes electrónicos, mecánicos y electromecánicos en la placa.

5 modelos, arquitectura común

Misma fixture. Mismo programa de test. Misma instrumentación. Mismo resultado del test

3030 Bench Top3030 Rack3030 Compact3030 Multimode3030 In Line
TipoTester modular 19” Bench TopTester multifuncional de huella ceroTester multifuncional de huella reducidaTester multifuncional de alta escalabilidadEl coste más bajo de un tester on-line de test
Canales5121536204840964096
RendimientoMedioAltoAltoMuy altoUltra alto

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