Características importantes
- 24 ranuras para la unidad de procesamiento de señales de PE y alimentaciones medias
- Arquitectura flotante
- Capacidad multinúcleo
- Rendimiento de los pines analógicos
- Rendimiento de los pines digitales
- Instrumentos de procesamiento de señales
- Instrumentos de alto voltaje y alta corriente
Arquitectura flotante
Arquitectura flotante
- Independiente del rendimiento de la PC: las CPU de SPEA múltiples provean el tiempo del programa de test, mientras que la sustitución de la PC no requiere la recalificación del programa de test
- Arquitectura multinúcleo: posibilidad de desarrollar y realizar 2 programas de test independientes simultáneamente, de forma asíncrona
- Programación basada en modelos: -30% de tiempo de test frente a los competidores
- Synchrobus de 64 líneas y synchrobus de alta velocidad de 16 líneas para la sincronización de instrumentos en tiempo real: ningún retardo integrado al realizar tests basados en modelos
- 99% de eficiencia de test paralelo
- Capacidades de test multisitio para hasta 256 dispositivos en paralelo
- Instrumentos flotantes de alta densidad, para un verdadero test analógico paralelo
- Arquitectura de ranura universal, hasta 1.408 canales
- Generadores de RF hasta 3 GHz
Rendimiento de los pines analógicos
Rendimiento de los pines analógicos
- 1 placa SPEA toma el lugar de 4 placas de los competidores
- Totalmente flotante, independiente para detección/forzamiento por canal
- Amplio rango V/I: ± 100 V/± 1 A, ± 20 V/± 2 A, ± 20 V/500 mA
- 32 digitalizadores DVM en Readback, totalmente independientes y flotantes independientemente
- 8 DVM disponibles en la interfaz para medir en diferentes puntos con respecto de los de alimentación
- Alarmas de pinzas, detector de picos, generadores de rampas automáticas
- Generadores de formas de onda arbitrarias y unidades de medición de tiempo por canal
Rendimiento de los pines digitales
Rendimiento de los pines digitales
- El tiempo de test para la medición de tiempo es 1/8 en respecto de los competidores para el cálculo de datos digitales y el manejo de protocolos
- Frecuencia de 200 M Hz
- Memoria de modelo 16 M
- Rango de voltaje desde -2 hasta + 6.5 V o desde -2 hasta 14 V
- Carga activa integrada en el pin digital
- DPS integrado (desde -2 hasta + 24 V, ± 500 mA)
- 8 unidades de medición de tiempo integradas (con posibilidad de mediciones de tiempo múltiples en el mismo canal)
- Unidades lógicas programables integradas
Instrumentos de procesamiento de señales
Instrumentos de procesamiento de señales
- Octal Digitizer y DSP para adquisición y procesamiento de datos en tiempo real: HF de 16 bits, BW audio de 24 bits
- Generadores Quad CA: HF de 14 bit, BW audio de 20 bit
- Filtros analógicos de paso bajo seleccionables
- DSP integrados para procesamiento rápido de señales
- Generador de formas de onda con sección audio de alta precisión y posibilidad de generar formas de onda personalizadas
- Contador, para mediciones de tiempo en señales de alto voltaje (± 100 V) y señales no periódicas – mediciones de tiempo directas
Instrumentos de alta tensión y de alta corriente
Instrumentos de alta tensión y de alta corriente
- 8 fuentes de alta corriente: 1000 A pulsados o 20 A continuos
- 8 fuentes de alto voltaje: ± 2500 V
- Aislamiento garantizado en la interfaz del cabezal de test (instrumentos alojados en el gabinete del instrumento)
- Generadores de alto voltaje y alta corriente diseñados por SPEA
- CPU integradas para controles de seguridad y programación rápida
- Alarmas de pinzas, detector de picos, generadores de rampas automáticas
Migración a SPEA CMX
- Paralelismo: 2x
- Tiempo de test: 1/2
- Ahorras el 50% de los manejadores y testers
Generación y depuración del programa de test < 1 día
- Entorno de programación fácil de aprender
- Generación del programa de test guiada
- La generación automática de códigos reduce drásticamente el tiempo necesario para desarrollar, depurar y lanzar el programa
- Importación automática de datos
- Bibliotecas de instrucciones orientadas al DUT y orientadas al instrumento
- Mapa de DUT
- Desarrollo de aplicaciones muy rápido
- Analizador de resultados de test
- Shmoo Plot
- Fácil de realizar. Fácil de seguir. Fácil de mantener.
Campos de aplicacion
Medical
Identification
Power
SoC's
PMIC
MEMS
Lighting
