El test de producción
multisitio económico
C600MX

TESTER DE SEÑALES MIXTAS ANALÓGICAS
88 ranuras para la unidad de procesamiento de señales de PE
y alimentaciones medias

Características importantes

 

  • 88 ranuras para la unidad de procesamiento de señales de PE y alimentaciones medias
  • Arquitectura flotante
  • Capacidad multinúcleo
  • Rendimiento de los pines analógicos
  • Rendimiento de los pines digitales
  • Instrumentos de procesamiento de señales
  • Instrumentos de alto voltaje y alta corriente

Arquitectura flotante

  • Independiente del rendimiento de la PC: las CPU de SPEA múltiples provean el tiempo del programa de test, mientras que la sustitución de la PC no requiere la recalificación del programa de test
  • Arquitectura multinúcleo: posibilidad de desarrollar y realizar 2 programas de test independientes simultáneamente, de forma asíncrona
  • Programación basada en modelos: -30% de tiempo de test frente a los competidores
  • Synchrobus de 64 líneas y synchrobus de alta velocidad de 16 líneas para la sincronización de instrumentos en tiempo real: ningún retardo integrado al realizar tests basados en modelos
  • 99% de eficiencia de test paralelo
  • Capacidades de test multisitio para hasta 256 dispositivos en paralelo
  • Instrumentos flotantes de alta densidad, para un verdadero test analógico paralelo
  • Arquitectura de ranura universal, hasta 1.408 canales
  • Generadores de RF hasta 3 GHz

Rendimiento de los pines analógicos

  • 1 placa SPEA toma el lugar de 4 placas de los competidores
  • Totalmente flotante, independiente para detección/forzamiento por canal
  • Amplio rango V/I: ± 100 V/± 1 A, ± 20 V/± 2 A, ± 20 V/500 mA
  • 32 digitalizadores DVM en Readback, totalmente independientes y flotantes independientemente
  • 8 DVM disponibles en la interfaz para medir en diferentes puntos con respecto de los de alimentación
  • Alarmas de pinzas, detector de picos, generadores de rampas automáticas
  • Generadores de formas de onda arbitrarias y unidades de medición de tiempo por canal

Rendimiento de los pines digitales

  • El tiempo de test para la medición de tiempo es 1/8 en respecto de los competidores para el cálculo de datos digitales y el manejo de protocolos
  • Frecuencia de 200 M Hz
  • Memoria de modelo 16 M
  • Rango de voltaje desde -2 hasta + 6.5 V o desde -2 hasta 14 V
  • Carga activa integrada en el pin digital
  • DPS integrado (desde -2 hasta + 24 V, ± 500 mA)
  • 8 unidades de medición de tiempo integradas (con posibilidad de mediciones de tiempo múltiples en el mismo canal)
  • Unidades lógicas programables integradas

Instrumentos de procesamiento de señales

  • Octal Digitizer y DSP para adquisición y procesamiento de datos en tiempo real: HF de 16 bits, BW audio de 24 bits
  • Generadores Quad CA: HF de 14 bit, BW audio de 20 bit
  • Filtros analógicos de paso bajo seleccionables
  • DSP integrados para procesamiento rápido de señales
  • Generador de formas de onda con sección audio de alta precisión y posibilidad de generar formas de onda personalizadas
  • Contador, para mediciones de tiempo en señales de alto voltaje (± 100 V) y señales no periódicas – mediciones de tiempo directas

Instrumentos de alta tensión y de alta corriente

  • 8 fuentes de alta corriente: 1000 A pulsados o 20 A continuos
  • 8 fuentes de alto voltaje: ± 2500 V
  • Aislamiento garantizado en la interfaz del cabezal de test (instrumentos alojados en el gabinete del instrumento)
  • Generadores de alto voltaje y alta corriente diseñados por SPEA
  • CPU integradas para controles de seguridad y programación rápida
  • Alarmas de pinzas, detector de picos, generadores de rampas automáticas

Migración a SPEA CMX

 

  • Paralelismo: 2x
  • Tiempo de test: 1/2
  • Ahorras el 50% de los manejadores y testers

Generación y depuración del programa de test < 1 día

 

  • Entorno de programación fácil de aprender
  • Generación del programa de test guiada
  • La generación automática de códigos reduce drásticamente el tiempo necesario para desarrollar, depurar y lanzar el programa
  • Importación automática de datos
    Bibliotecas de instrucciones orientadas al DUT y orientadas al instrumento
  • Mapa de DUT
  • Desarrollo de aplicaciones muy rápido
  • Analizador de resultados de test
  • Shmoo Plot
  • Fácil de realizar. Fácil de seguir. Fácil de mantener.
Campos de aplicacion

Medical

Identification

Power

SoC's

PMIC

SPEA MEMS Test

MEMS

Lighting

Automotive

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