Célula de test de módulos
de tarjeta inteligente

CPU, memoria, RFID, UHF, dispositivos combinados

Características importantes

 

  • Test + manejo de soluciones de llave en mano
  • Rápido tiempo de conversión de configuración
  • Rendimiento de hasta 59.000 UPH
  • Modularidad completa del sistema
  • Función de estiramiento de cinta

Solución de llave en mano de un solo fabricante

 

La característica única de la célula de test de tarjetas inteligentes de SPEA es la capacidad de realizar, como un solo equipo, el manejo en carretes y los tests completos de los módulos de tarjeta inteligente, cubriendo todos los posibles defectos eléctricos y rechazando los defectos de posicionamiento del orificio.

SPEA provea directamente las tarjetas de sondas, el software (con interfaz única y registro de datos común para tests y manejo) y soporte completo.

Mayor rendimiento

  • Alto test multisitio: hasta 80 dispositivos en paralelo
  • Manejo de alto rendimiento: hasta 59.000 UPH (@ 200 ms de tiempo de test)
  • Rápida reconfiguración del sistema & intercambio de carretes: conversión de configuración en menos de 5 minutos
  • Test repetido automático: test repetido programable de dispositivos FAIL (selección de fallas)
  • Retoque automático de tarjetas de sonda: retoque programable de tarjetas de sonda de dispositivos FAIL (selección de fallas)

Capacidad de manejo en carretes

  • Precisión de posicionamiento de la cinta: hasta 50 µm
  • Regulador de movimiento de la cinta basado en cámaras de alta resolución
  • Cabezal de test doble top/bottom para tests de dispositivo de interfaz dual (dispositivo combinado)
  • Realineamiento automático para cubrir el alargamiento de la cinta de plástico
  • Punzonado rápido de la cinta (aislamiento y rechazo)

Test funcional

  • Test de la funcionalidad del dispositivo en modo de trabajo real
  • Inicialización y programación independiente del dispositivo

Test paramétrico

Las medidas de corriente y voltaje se realizan en pines definidos, en condiciones estables.

Software intuitivo y fácil de utilizar

 

  • Editor de suite de familia de dispositivos de tarjeta inteligente para una generación de flujo de test simple, rápida y guiada para todas las familias de dispositivos de tarjeta inteligente
  • Manejo y tests de registro de datos común
  • Informaciones de producción en tiempo real
  • Estadística grafica
  • Estado del flujo de cinta en tiempo real
  • Indización, seguimiento y rechazo de la vista de la cámara
  • Consola de operador simple y potente para intervención manual para producción

Amplia gama de tipos de dispositivos de tarjetas inteligentes

Dispositivos

Combi Devices (Contact + Contactless)

Contact Devices (CPU, Memory)

Contactless devices (LF, HF, UHF, Crypto devices)

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