El CT1000 está diseñado para cumplir todos los requisitos de los módulos de tarjetas inteligentes (con contacto, sin contacto y de doble interfaz) y de los dispositivos RFID, que utilizan protocolos estándares y personalizados. Este probador altamente configurable y escalable realiza rápidamente todas las mediciones para cumplir los requisitos de las pruebas de parámetros y funcionales de los dispositivos presentes y futuros. Una única plataforma, para una cobertura de la prueba completa.
Preparado para probar todos sus módulos de tarjetas inteligentes
Los sistemas CT1000 prueban los módulos de tarjeta inteligente con contacto y sin contacto y, asimismo, prueban dispositivos de doble interfaz (integrando chips de tarjeta con contacto y sin contacto en un módulo único).
Los probadores CT1000 son abiertos y configurables para probar cualquier clase de protocolos de comunicación, usados en módulos de tarjeta inteligente, y para actualizarse con las nuevas tecnologías.
Los sistemas pueden probar dispositivos, que usan los protocolos estándares comunes (tales como ISO 18000, EPC Global Gen 2, ISO 14443, ISO 15693, MIFARETM, DESFIRETM, FeliCaTM, ISO 11784/85, ICodeTM, HitagTM, ISO 7816, ISO 7813) y están preparados para probar también la siguiente generación de protocolos de tarjeta.
Además, los sistemas CT1000 permiten efectuar verificaciones de funcionalidad usando protocolos personalizados, completamente definidos por el fabricante del dispositivo.
Un tiempo de prueba breve para una precisión ultra
Los equipos analógicos con la última tecnología del CT1000 conjugan la reducción del tiempo de prueba con mediciones sumamente precisas.
Pruebas de elevado paralelismo de bajo costo: cada módulo CT1000 puede probar 32 dispositivos síncronos o asíncronos al mismo tiempo. Asimismo, los probadores CT1000 están diseñados para conectarse en paralelo, para probar más de 32 sitios.
Las unidades DVM realizan el tratamiento de datos y cálculos matemáticos sobre los valores adquiridos. Lo cual garantiza mediciones precisas sin perjudicar el cruce de datos para mediciones de un solo sitio o de varios sitios en paralelo.
Cuando se usan en pruebas finales, los probadores CT1000 pueden conectarse a los manipuladores de carrete a carrete H1000 de SPEA, o bien a manipuladores de terceros. Cuando se usan para probar wafers, se pueden conectar a una sonda mediante cables específicos.
La mejor forma de probar todas sus aplicaciones de dispositivos ID
Doble interfaz y Contacto
Sin contacto
Soporte con película
Wafer
Capacidades de prueba extraordinarias
Prueba RFID
Los canales RFID del CT1000 pueden efectuar, en paralelo, mediciones sumamente precisas y fiables de capacitancia e índice de modulación trasera. Los canales realizan la codificación y descodificación en tiempo real del protocolo de comunicación para el dispositivo sometido a prueba.
Asimismo, cada canal está equipado con una unidad de lógica programable, para descodificar verdaderamente en paralelo el protocolo de comunicación del dispositivo sometido a prueba y, de este modo, se llevan a cabo las pruebas funcionales completas de la estructura del módulo interno. Los canales están equipados también con DSP, que permite la plena programación para probar protocolos personalizados.
- Frecuencia de prueba LF/HF: 125kHz ÷ 13,56MHz
- Frecuencia de prueba UHF: 800 MHz ÷ 1 GHz
El CT1000 se puede equipar con un módulo de interfaz SAM, para obtener un nivel de seguridad más avanzado durante las pruebas de un dispositivo RFID.
Medición de capacitancia e impedancia
Los sistemas CT1000 pueden efectuar mediciones de capacitancia e impedancia precisas, comprobando las señales de comunicación del módulo de la tarjeta inteligente cuando las almohadillas RFID se ponen en contacto. De esta forma, se puede probar el funcionamiento correcto del dispositivo antes de ensamblar la tarjeta, y detectar defectos que no se podrían identificar al final de la prueba, pero que causarían, inevitablemente, el funcionamiento incorrecto durante el uso del dispositivo.
Prueba de un dispositivo RFID con o sin antena
Los probadores CT1000 pueden comprobar el funcionamiento real de dispositivos RFID sin contacto. El sistema se puede equipar con una antena o no tenerla para leer datos de una etiqueta RFID y escribir datos en dicha etiqueta vía radio, generando campos magnéticos programables.
Pruebas de abierto / cortocircuito / fuga
Con el fin de garantizar la fiabilidad, coherencia y reproducibilidad de los resultados de las pruebas, el CT1000 puede efectuar pruebas de abierto, cortocircuito y fuga, y comprobar la corrección del contacto.
Prueba final
Los sistemas CT1000 prueban las condiciones de comunicación de una tarjeta inteligente con los protocolos estándares comunes (ISO 18000, EPC Global Gen 2, ISO 14443, ISO 15693, MIFARETM, DESFIRETM, FeliCaTM, ISO 11784/85, ICodeTM, HitagTM, ISO 7816, ISO 7813). El CT1000 puede medir el índice de modulación trasera, para evaluar la nitidez y fuerza / calidad de la señal de respuesta proporcionada por el componente sometido a prueba.
Caracterización del dispositivo
Los sistemas CT1000 se pueden usar para caracterizar los parámetros del dispositivo, usando una herramienta software de caracterización específica. Un analizador de datos funcional (SCDA Smart Card Data Analyzer) y una herramienta de dibujo de formas de onda están disponibles
Fácil de usar y software potente
El sistema operativo ATOS C2 Smart Card permite el desarrollo y la solución de problemas en programas de prueba en un modo simple, mediante el VRAD (Desarrollo muy rápido de aplicaciones) y la función AutoDebug.
La interfaz gráfica de usuario y los algoritmos empleados permiten que sea rápido y fácil usar las funciones del software. Los ingenieros de las pruebas también pueden programar el sistema en un nivel bajo, mediante técnicas intuitivas de introducción manual. La generación de programas de prueba automática es muy rápida gracias a las estructuras basadas en las librerías de prueba de familias.
