Il meglio per il test delle schede
Insuperabili nel Throughput e nella copertura guasti
I tester automatici a sonde mobili SPEA si distinguono per le insuperate prestazioni di elevato throughput e per un’eccellente copertura guasti. Il principale vantaggio dei tester a sonde mobili è essere immediatamente pronti a collaudare ogni nuovo prodotto. Infatti, non sono necessarie specifiche attrezzature, quali letto d’aghi o adattatori, o particolari accorgimenti come lo studio di testabilità. I probe ultra veloci sono in grado di contattare punti aventi dimensioni a partire da 30um e, pertanto, non è necessario predisporre appositi test pad nel circuito stampato. Il profilo di contattazione dei probe a zero impatto consente di non avere degradazioni nei punti contattati anche in caso di contattazione multipla. Il posizionamento dei probe è costantemente misurato in XYZ da encoder ottici lineari con risoluzione di 12nanometri, il che consente di avere una accuratezza di posizionamento stabile nel tempo e insensibile a variazioni di temperatura e umidità.
La generazione di un testprogram di tipo in-circuit avviene in modo totalmente automatico a partire dai file CAD, così come la messa a punto e la stabilizzazione delle misure. In poche ore si ha il completo sviluppo del testprogram pronto per essere usato. Il tester può essere usato in modo automatico, senza l’ausilio di un operatore, utilizzando i Moduli SPEA di Loading da rack e i Moduli SPEA di Buffer per avere una autonomia di funzionamento notturno o dell’intero weekend. Il caricamento dei rack può anche essere effettuato automaticamente da robot AGV. Il tester può essere usato in linea con alimentazione da conveyor e uscita in conveyor o in rack.
La gamma include diversi modelli, con prestazioni e prezzi differenti in base al throughput necessario. Questo è il motivo per cui i tester SPEA sono in grado di coprire tutte le diverse esigenze produttive: dalla produzione ad alti volumi, di oltre 800.000 schede anno, a quella a bassi volumi, al collaudo di NPI e prototipi. I modelli possono essere allestiti con differenti moduli e strumenti per collaudare differenti prodotti quali schede elettroniche, circuiti flessibili, moduli di potenza, back-panel, loadboard, probe-card, dispositivi in ceramica, microelettronici e wafer di silicio.
Applicazioni
Test di schede elettroniche
Test di schede elettroniche
Test di circuiti flessibili
Test di circuiti flessibili
Test di schede di potenza
Test di schede di potenza
Test di schede e pannelli LED
Test di schede e pannelli LED
Test di probe card
Test di probe card
Test di load board
Test di load board
Top Features
Throughput insuperato
Throughput insuperato
800.000 schede all'anno
SPEA ha progettato e realizzato il primo tester a sonde mobili ad altissima produttività.Posizionamento ultra-accurato
Posizionamento ultra-accurato
Anche su micro-pad e componenti SMD 008004
I tester SPEA sono progettati per le necessità di collaudo delle nuove tecnologie microelettroniche.Contattazione sicura
Contattazione sicura
Probing a forza controllata
Le delicate piazzole di piccole dimensioni devono essere contattate dai probe mobili con forza controllata, in modo da non generare marcature che possano degradarle.Test dei cortocircuiti su tutte le net
Test dei cortocircuiti su tutte le net
Anche sulle schede ad alta densità
Le misure elettriche su tutte le net permettono di individuare tutti i cortocircuiti.Caricamento automatico delle schede
Software intuitivo
Software intuitivo
Massima semplicità d'uso
Gli utenti possono operare facilmente, tramite interfacce grafiche intuitive, all'interno di un ambiente software app-based.Trova il tester giusto per te
Confronta i modelli di Flying Probe
4080 | 4080L | 4060 | 4050 | 4020 | |
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THROUGHPUT | |||||
UPH (UPY) [340 net - 357 components] | 128 (1 Mln)* | 128 (1 Mln)* | 83 (660 k)* | 47 (372 k)* | 31 (246 k)* |
UPH (UPY) [1000 net - 600 components] | 63 (500 k)* | 63 (500 k)* | 41 (330 k)* | 34 (270 k)* | 22 (180 k)* |
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PROBING | |||||
Top Flying Heads | 4x | 4x | 4x | 4x | 4x |
Bottom Flying Heads | 4x | 4x | 2x | - | - |
Bottom Lift | - | - | - | 1x | 1x |
Contactable pad (min) [µm] | 30** | 30** | 70 | 70 | 70 |
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AUTOMATIC LOADING | |||||
From Rack | Yes | Yes | Yes | Yes | Yes |
From Conveyor/Line | Yes | Yes | Yes | Yes | Yes |
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DIMENSIONS | |||||
Dimensions [WxLxH] | 1700 x 1300 x 2050 mm 67 x 51 x 81 inches | 2335 x 1760 x 2221 mm 7.66 x 5.77 x 7.29 inches | 1750 x 1272 x 1724 mm 69 x 50 x 68 inches | 1600 x 1220 x 1660 mm 63 x 48 x 65 inches | 1600 x 1220 x 1660 mm 63 x 48 x 65 inches |
UUT Size (max) [LxW] | 1000 x 460 mm 40 x 18 inches | 1200 x 668 mm 47 x 26 inches | 1524 x 610 mm 60 x 24 inches | 1000 x 400 mm 40 x 16 inches | 1000 x 400 mm 40 x 16 inches |
Device Height (Top/Bottom) | 85/85 mm 3.4/3.4 inches | 150/150 mm 5.9/5.9 inches | 80/55 mm 3/2 inches | 55/90 mm 2/3.5 inches | 55/90 mm 2/3.5 inches |
Flexible Circuit on Reel Width | 190 mm 7.5 inches | - | - | - | - |
* 8h, 3 shifts, 330 days | |||||
** In ultra-accurate probing configuration |