MEMS and Sensors Test - MEMS Stimulus - SPEA

MEMS Test Cell

Un'unica macchina per il collaudo e la calibrazione completi di MEMS e sensori

SPEA Pick & Place Test Handler - SPEA

Rispetto al collaudo dei circuiti integrati, il collaudo dei MEMS presenta diverse peculiarità. Oltre al test elettrico, richiedono uno specifico tipo di stimolo per testare correttamente la loro capacità di trasdurre un input fisico in un output elettrico nelle reali condizioni di utilizzo. Inoltre devono essere movimentati con macchinari specializzati, in grado di fornire una produttività elevata senza compromettere le strutture micromeccaniche interne. E, ultimo ma non meno importante, i collaudi spesso devono essere eseguiti sottoponendo i componenti a specifiche condizioni di temperatura.

SPEA ha dimostrato di essere il fornitore più qualificato di attrezzature di collaudo per dispositivi MEMS: Le MEMS Test Cell di SPEA combinano una movimentazione pick&place veloce e delicata, una contattazione affidabile e capacità di collaudo finale completo, compresi test elettrici, stimolo fisico per il test funzionale e la calibrazione e condizionamento termico tri-temp. Tutto è controllato da un’unica interfaccia software per offrire un ambiente di facile uso lungo tutto il processo, dalla programmazione fino al controllo della produzione.

Equipaggiamento all-in-one

MEMS Test Cell - Pick an Place - SPEA

Movimentazione pick&place

MEMS Test Cell - Functional Test - SPEA

Test funzionale e parametrico

MEMS Test Cell - MEMS stimulus - SPEA

Stimolo MEMS specifico

MEMS Test Cell - Device Calibration Test - SPEA

Calibrazione dei dispositivi

MEMS Test Cell - Temperature Test - SPEA

Condizionamento tri-temp

MEMS Test Cell - Contacting interface - SPEA

Interfaccia di contattazione

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SPEA MEMS Test Cell - SPEA

Soluzione completa da un unico produttore

 

Tutti gli elementi della MEMS Test Cell sono progettati e prodotti direttamente da SPEA, in modo che la cella di collaudo funzioni come un’unica macchina, offrendo le migliori prestazioni.

Questo garantisce le migliori performance tecniche, l’ottimizzazione dei costi delle attrezzature, l’immediata integrazione in fabbrica.

Il costo del test risulta notevolmente ridotto, grazie all’elevata produttività, all’investimento inferiore, al breve tempo di sviluppo dell’applicazione e al rapido adattamento ad applicazioni differenti.

 

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Test completo con stimolo MEMS

Test in condizioni di lavoro reali

Il test funzionale e la calibrazione affidabili dei MEMS e dei sensori non si limitano alle caratteristiche elettriche dei dispositivi. Richiedono anche di determinare e analizzare le funzioni meccaniche dei dispositivi, misurando il loro comportamento non elettrico.

Per questo motivo, le MEMS Test Cell di SPEA sono in grado di replicare perfettamente le reali condizioni di lavoro di un’ampia varietà di dispositivi, applicando lo stesso stimolo fisico che il dispositivo deve rilevare e a cui deve rispondere. La connessione costante alle risorse di misura durante l’applicazione dello stimolo rende l’attrezzatura in grado di verificare con precisione il corretto funzionamento del dispositivo.

Le risorse di prova possono essere incorporate nell’unità di stimolo o alloggiate in un tester compatto, costituito dalla sola test head.

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Concetto di test finale completo

Le Cell Test di SPEA eseguono il test parametrico e funzionale completo sui dispositivi completamente impacchettati – sia per package standard che per package WLCSP die-level – alla fine del processo di produzione.

Dopo il collaudo, i dispositivi possono essere spediti direttamente al cliente, senza bisogno di ulteriore lavoro o di nuovi test.

È possibile raggruppare più stimoli in una singola unità di collaudo per testare MEMS combinati, come sensori ambientali (pressione + umidità + gas + temperatura) o sensori di navigazione (accelerometro + giroscopio + bussola). L’area di test può essere facilmente riconfigurata sul campo con diverse unità di collaudo.

 

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MEMS Test - Inertial sensors - SPEA

Inerziali

  • Accelerometri a bassa accelerazione
  • Giroscopi
  • Sensori ad alta accelerazione
  • Sensori 6-DOF
MEMS Test - Environmental Test - SPEA

Ambientali

  • Sensori barometrici
  • Sensori di umidità
  • Sensori di temperatura
  • Sensori di gas
MEMS Test - Pressure test - SPEA

Pressione

  • Sensori di pressione assoluta e differenziale
  • TPMS
  • Sensori di forza
  • Sensori di media e alta pressione
MEMS Test - Light Test - SPEA

Ottici

  • Sensori di prossimità
  • Sensori a tempo di volo
  • Sensori di distanza
  • Sensori UV
  • Sensori IR
  • Sensori di gesti
MEMS Test - Magnetic test - SPEA

Magnetici

  • Bussola
  • Sensori a effetto Hall
  • Sensori angolari
MEMS Test -Acoustic Test - SPEA

Acustici

  • Microfoni
    Altoparlanti
MEMS Test - Pick & Place Test Handler - SPEA

Movimentazione MEMS ad alta produttività

 

I test handler pick and place ad alta produttività (in grado di spostare fino a 33.000 unità all’ora) sono specificamente progettati per eseguire una movimentazione delicata e completamente automatizzata dei dispositivi MEMS, senza applicare ulteriore forza ai componenti. L’architettura dell’handler offre la massima flessibilità, in modo che la configurazione possa adattarsi a qualsiasi processo: i dispositivi vengono prelevati da tray o bowl feeder, wafer o strip su blu/UV tape, trasferiti nell’area di test e, alla fine del collaudo, vengono posizionati su tray, reel o box.

 

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Condizionamento termico senza azoto

 

Il condizionamento termico è applicato a dispositivi che devono essere collaudati in temperatura (sensori di temperatura, ma anche dispositivi che devono operare in condizioni estreme, come i sensori automotive), con un innovativo sistema senza azoto che va da -65 a 200°C.

Un meccanismo di rapida variazione della temperatura permette un test a diverse temperature con un’unica inserzione: il dispositivo può rimanere nella stessa pocket mentre viene testato ai valori di temperatura richiesti, in sequenza. Ciò consente di contenere i costi complessivi, riducendo il numero delle operazioni di manipolazione richieste, garantendo una maggiore precisione di calibrazione e una più facile tracciabilità del dispositivo.

  • Range di temperatura: da -65 a +200°C
  • Accuratezza di temperatura ± 1°C
  • Stabilità di temperatura ± 0,5 °C
  • Nessuno scongelamento necessario per intervenire sui socket
  • Funzionamento 24 ore/giorno senza interruzioni
  • Precisa regolazione della temperatura su tutto il range di temperature
  • Temperatura ambiente controllata
  • Tracciamento preciso dei parametri delle prestazioni termiche
  • Monitoraggio della temperatura su ciascun componente

Contatto affidabile e delicato

 

SPEA fornisce le Test Cell complete di tutti gli strumenti necessari per interfacciare e contattare i dispositivi da collaudare con la strumentazione di collaudo.

Socket e unità di contatto sono sviluppati internamente da SPEA, per i package IC più comuni (con o senza conduttori) così come per package personalizzati, per fornire le migliori prestazioni nel collaudo dei MEMS:

  • Contatto a bassa forza
  • Trasferimento termico ad alta efficienza con DUT
  • Unità di contatto dead-bug o live-bug
  • Forma della punta del pressore DUT personalizzabile
  • Allineatore di dispositivi
  • Sensori di temperatura sui contattori
MEMS Test Cell - MEMS Contacting - SPEA

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