In-Circuit Tester - Bed of Nails Tester - Background - SPEA

In-Circuit Tester ad altissimo parallelismo

T300 Tester Automatico

SPEA-T300-In-Circuit-Tester

32x PCBA collaudati in parallelo

 

Il tester di schede elettroniche SPEA T300 è un sistema di test unico e senza precedenti che supporta fino a 32 core di test in-circuit parallelo con 256 core aggiuntivi per Flashing e Test Funzionale. Questo permette all’architettura parallela asincrona del T300 di eseguire test e Flashing in parallelo fino a 32 PCBA (Printed Circuit Board Assemblies).

SPEA T300 è in grado di eseguire il test ICT-Plus, una tecnica di test inventata da SPEA ed unica sul mercato. l’ICT-Plus consente di individuare molti difetti presenti nell’elettronica non rilevabili con il test ICT Standard.

32x ICT Cores

32-Core

ICT ad alte prestazioni
8x ICT-Plus Cores

8-Core

ICT-Plus ad alte prestazioni
256x Flashing Cores

256-Core

Flashing
256x FCT Cores

256-Core

Test Funzionale
PCBA Panel

Collauda e programma un enorme numero di schede in parallelo

 

Molta elettronica viene prodotta in pannelli composti da un alto numero di schede singole, che a loro volta contengono uno o più componenti che necessitano di essere collaudati e programmati.

Il nuovo tester SPEA T300 è progettato per collaudare e programmare in parallelo un alto numero di schede elettroniche e sezioni di una scheda elettronica di grandi dimensioni. In questo modo è possibile ottenere un alto throughput e un basso costo del test e della programmazione.

Unico sul mercato: 32x PCBA collaudati in parallelo

T300 è unico sul mercato per l’elevato parallelismo: 32 core per test in-circuit e 256 core per flashing e test funzionale. Le sue caratteristiche uniche permettono allo stesso di ottenere un throughput 10 volte superiore a quello dei tester In-Circuit tradizionali.

Dual Test Site

Programmabile come Single or Dual Test Site

 

Il T300 può essere programmato come Single Test Site o Dual Test Site.

Questo consente di effettuare test in parallelo di un modello di scheda, il test di due differenti modelli di schede contemporaneamente oppure di eseguire lo Split Test in modo da raddoppiare il throughput.

Collaudo senza operatore

 

Il T300 può essere configurato in diverse Modalità Operative Automatiche, che non richiedono la presenza dell’operatore:

  • In-line Input – In-line Output
  • Rack Input – In-line Output [1]
  • In-line Input – Rack Output [1] [2]
  • Rack Input – Rack Output [1] [2]

 

[1] Robot rack loading come opzione
[2] Pass-Fail selection come opzione

Tester automatico connesso all’ecosistema digitale

 

Il T300 può scambiare informazioni, notifiche e comandi con l’ambiente Industry 4.0 e l’ecosistema digitale.

Il tester contiene sensori per monitorare lo stato dell’ambiente, le parti mobili, le alimentazioni elettriche e pneumatiche, alimentatori interni ed esterni al fine di:

  • poter programmare ed eseguire eventi di manutenzione predittiva
  • individuare in anticipo errori che causerebbero malfunzionamenti
  • stimare l’usura e la vita rimanente dei componenti della macchina

 

Il T300 è concepito per un uso duraturo e intensivo nella produzione, nonché per una manutenzione facile e veloce.

In-Circuit Tester - Software - ATOS - SPEA

ATOS: Tester Operating System proprietario

 

Il sistema operativo ATOS Leonardo 4 ICT è il software sviluppato da SPEA per il T300.

ATOS protegge i testprogram realizzati nel corso degli anni da eventuali incompatibilità con le versioni dello stesso, che vengono man mano sviluppate nel tempo. I test program sviluppati con Leonardo 4 ICT continuano a funzionare anche dopo l’aggiornamento del PC a nuove versioni di Windows.

Prenota ora la tua DEMO gratuita o contattaci per maggiori informazioni

Contatta il team SPEA
Design & Code by dsweb.lab