将两台测试仪合二为一,
测试效率可达 100%

DOT800
5.000+ 个通道,浓缩在一台零占地的设备之内。

Semiconductor test - Analog Mixed Signal Tester - DOT800 SPEA

DOT800 将两台测试仪的能力融合到一个只有测试头的系统中,提供了真正不占用空间的解决方案。采用创新的面向器件的仪器,所有模拟、数字和信号处理资源都集中在一个功能强大的可配置主板上。测试性能优越,对于众多设备来说,多站点效率 >99.5%。

应用

汽车

电源管理

微机电系统和传感器

移动通信

数字和混合信号

MCU

医疗

电力和分立器件

线性

串行器/解串器

工业级

物联网、射频及无线应用

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多核心架构

 

DOT800 由两个体积小于 0.3 立方米的独立系统核心构成。每个核心配有一个专用 CPU,用于在全异步模式下执行测试程序,从而确保达到最高的并行测试效率。这种架构在推出市场和测试速度方面拥有巨大的优势。

不同工作站并行编程

加速您的测试程序研发:两位开发工程师可同时在同一系统中开发测试程序。

并行测试不同 DUT

一台测试仪可以在全异步模式下同时测试两个不同应用。

并行测试不同 IP

系统可以在异步模式下通过相同器件的两个不同 IP,同时运行两个不同的测试程序。

测试仪内置在主板上

 

DOT800 仪器将所有模拟、数字和信号处理资源集中在一个强大的主板上,可实现多站点测试,内设多个主控 CPU、DSP 模块和可编程逻辑单元。这种主板内置测试仪的模块可配置,您可以在 DOT800 中加装单一类型的仪器,从而大幅简化系统构成、程序设计和维护,同时最大程度满足所有器件测试要求,甚至是高于这些要求。

 

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Semiconductor Test - Mixed Signal Tester - Instrumentation SPEA

5G 测试

DOT800测试机可以对5G的产品在低频段、中频段和高频段进行完整的功能测试,最高频率可达到81GHz.

这是一种创新的板载测试技术,将射频测试资源直接集成在测试机板卡上,同时实现低成本和高测试覆盖率,让您无需专用射频测试机即可全面测试您的毫米波产品。

 

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直接对接

 

在 DOT800 中,测试仪和待测器件之间只需使用一个探针卡:无需单独的装载板或探针塔元件。这减小了硬件成本和开发时间,同时确保晶圆针处也有良好的信号完整性,这是因为测试仪管脚和待测器件之间的元件数量大幅降低。
DOT800 集成了市场上的主流探针型号:探针卡自动装载和锁闭功能提高了总体测试单元效率,并提供了最好的平面度控制、自动正确锁闭验证和最大安全性。可利用相同的对接接合器在左侧或背面对接晶圆探针,这进一步简化了硬件,并提供了最大的安装灵活性。

不依赖 PC 性能

完全不受 Windows® 操作系统升级或 PC 更换的影响

 

为保证始终具有最佳效率,DOT800 性能完全独立于用作系统控制器的 PC 以及所安装的软件版本。

仪器程序设计时间是由多个高性能 SPEA CPU 并行生成的,测试程序在更新 Windows® 或更换 PC 时无需重新验证。

系统更新时无需重新验证测试程序

 

借助于 DOT800 操作软件,您可以同时安装多个不同软件版本,包括软件补丁。启动测试程序时,测试仪自动识别用于产生测试程序的软件版本,并用最新版本运行测试程序。这样您就可以始终获得最新和最常操作的软件版本,而不必担心现有的测试程序。

您的测试仪 4.0

 

通向免维护系统:DOT800 收集、分析并对任何偏离标准的性能发出提醒,以便采取要求措施,避免过程退化和停机。

 

规范性维护

在更换批次或晶圆的操作中,DOT800 将自动检查设备校准日期,无需移除或更换生产负载板。这些数据将被保存和分析,然后,在性能不合规格时,测试仪将能发送警报通知, 并自动启动仪器校准程序

 

预防性维护

所有仪器都配有机载内存,用于评估其机械磨损情况。仪器将会计算继电器换向的次数,作出预防性维护必要的指示。这有助您安排维护操作,避免意外停机。

 

仪器功能强大,性能优越

LPE 系列

测试仪内置在主板上

 

LPE 是一款即多处理器、多功能的通道仪器,采用革命性的模块化架构,兼有模拟、数字和信号处理能力。测试一台或多台设备所需的全部资源集中在一块主板上:这样就可以大大简化测试通道和设备之间的装载板连接。这种主板内置测试仪的仪器含有一个板载控制器、四个矩阵卡和多达四个通道卡,一个仪器槽最多共有 256 个通道。您可以选择不同通道卡构建完美的性能组合,以满足测试要求。不多不少,刚好满足测试产品的需要。

DYLPS

低功率 V/I 源

DYLPS200 是一种高精度 32 通道(64 路输出:32 通道,混合比 1:2)低功率 V/I 源和 V/I 回读数字化仪。每个通道的电压电流可达 160V 和 9.6A。

HPE

中功率 V/I 源

HPE 100 是一种 16 通道浮式可堆叠、可编组仪器,内设驱动及高精度回读数字化仪,可用于电压电流高达 ±100V、16A 的 4Q 中功率信号。

HPES

高功率 V/I 源

HPES 100 是一种 8 通道浮式仪器,内设驱动及高精度回读数字化仪,可用于电压电流高达 ±400V、2A 的 4Q 中功率信号。

SVM TRIM

微小数值测量模块

SVM TRIM 为多合一装置,共有 256 个通道,可测量非常低的电流 (pA)、电容 (fF) 和电压 (µV)。

高功率发生器

高功率发生器可产生和测量高达 20KV(测量峰值电流)的电压,提供高达 4kA 的脉冲电流。

TOB 5G - mmWave Test Module - Vayyar - SPEA

TOB 5G

毫米波测试模块

DOT 800 提供有 5G 射频选项,能够精确测试不超过 81GHz 频段的射频装置,无需专用射频测试仪。板上测试模块直接集成到测试仪负载电路板上。

直观易用的软件,根据测试工程师的需求而设计

 

DOT800 性能强大,并辅以强大的 ATOS C2 操作软件,为测试开发过程、生产系统使用以及维护作业管理制定了新的标准。

 

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