ID装置晶片测试仪
CT3000

NFC、CPU、内存、射频识别设备晶片测试

主要特点

 

  • 最多416个并行测试设备
  • 接触式、非接触式、双接口式、NFC
  • 支持自定义协议
  • 参数和功能测试
  • 智能卡设备系列套件编辑器

最高的多站点零占用空间测试仪

 

CT3000测试仪可以并行测试多达416个同步或异步设备,并在晶片级测试射频识别设备(并行256个设备)时提供最高的管脚计数。

该系统可通过铰链操纵器与晶片探针对接,做到真正的零空间解决方案,同时在测试资源和被测设备之间实现直接、无电缆连接:始终保证信号的最佳完整性。

可对每个被测设备的异步专用资源进行真正的异步测试,每个模具都有静态或动态测量。

RFID测试

CT3000射频识别通道可以对阻抗、反向调制指数、FDT时间进行非常精确和可靠的并行测量。

该通道可以对被测设备的通信协议进行实时编码和解码。

每个通道还配有一个控制器,可对被测设备的通信协议进行真正的并行解码,从而对内部模块结构进行完整的功能测试。

通道配有专用的CPU,以允许对定制协议进行完全编程测试。

测试频率范围为125kHz至15MHz(低频/高频)

随时可对所有智能卡模块进行测试

开放的且可配置的CT3000测试仪,可对智能卡所使用的任何通信协议进行测试,并针对新技术进行更新。

该系统可以基于通用标准协议(例如,ISO 18000、EPC Global Gen 2、ISO 14443、ISO 15693、MIFARE™、DESFIRE™、FeliCa™、ISO 11784/85、ICode™、Hitag™、ISO 7816)对设备进行测试,同时还可以使用完全由设备制造商定义的协议进行功能验证。

超精密测量用时短

CT3000的最新技术模拟仪器可缩短测试时间,并进行非常精确的测量。

DVM单元能够对所获得的数值进行数据处理和数学计算。这样,即可以确保精确测量,又不会影响单站点或多站点并行测量的数据交换。

测试能力

  • 开路/短路/泄漏初步测试
  • 阻抗测量
  • 无源器件测试
  • 射频识别设备的单一命令或命令调整
  • 信号清晰度和强度

测试程序生成和调试<1天

 

  • 易于操作&功能强大的软件
  • 射频识别信号形状图
  • 信号查看器和数据分析器
  • 智能卡测试功能库
  • 调试软件
  • 生产软件
装置

双重接口

智能卡

射频识别

NFC

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