用于 NFC、CPU、内存、RFID 的晶圆测试仪

CT3000 晶圆测试仪
ID 器件晶圆测试中的最高引脚数

CT3000 是用于识别、安全和近场通信器件的新型晶圆测试平台解决方案。这款测试仪可扩展,可重新配置,十分灵活,可以满足当前和未来的需求,提供高引脚数和每个裸片的专用资源,从而缩短测试时间并降低总体测试成本。

准备好测试您的所有智能卡模块

 

CT3000 测试仪是开放且可配置的,可测试智能卡上使用的任何类型的通信协议,并针对新技术进行更新。

这些系统可以根据通用标准协议(如 ISO 18000、EPC Global Gen 2、ISO 14443、ISO 15693、MIFARETM、DESFIRETM、FeliCaTM、ISO 11784/85、ICodeTM、HitagTM、ISO 7816)测试器件,同时它们也可以使用完全由器件制造商定义的定制协议执行功能检验

具有最高引脚数的最佳吞吐量

 

CT3000 测试仪可以并行测试多达 416 个同步或异步器件,提供晶圆级 RFID 器件测试(并行 256 个器件)中最高的引脚数。

每个被测器件的异步专用资源允许真正的异步测试,每个裸片具有静态或动态测量

测试时间短,更高精确度

 

CT3000 的最新技术模拟仪器结合了更短的测试时间与极其精确的测量。

DVM 单元能够对采集的数值进行数据处理和数学计算。这可确保精确策略,对单站点或多站点并行测量都不会影响数据交换。

测试您所有识别器件应用程序的最佳方法

RFID

智能卡

双接口

NFC

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顶级测试能力,保证最佳性能

RFID 测试

 

CT3000 的 RFID 通道可以并行执行极其准确可靠的阻抗、逆调制指数、FDT 时间测量。这些频道可对被测器件执行通信协议的实时编码和解码。

每个频道还配备了一个控制器,以对被测器件的通信协议进行真正的并行解码,从而对内部模块结构进行完整的功能测试。这些频道还配备了专用CPU,可进行完全编程以测试定制协议。测试频率范围为 125kHz 至 15MHz (LF/HF)。

无源器件测试

 

CT3000 可以检查无源器件的存在,例如电容器、电阻器、谐振器。

开路 / 短路 / 漏电

 

为保证测试结果的可靠性、一致性和可重复性,CT3000 可进行开路、短路、漏电等初步测试,验证接触是否正确。

阻抗测量

 

在接触 RFID 焊盘时,验证智能卡模块通信信号之前,CT3000 系统可以执行精确的输入器件阻抗测量

这样,就可以在组装卡之前测试器件的正常工作,从而发现在最终测试时无法识别但在器件使用过程中不可避免地会导致故障的缺陷。

信号清晰度和强度

 

CT3000 可以测量逆调制指数,以评估被测组件提供的应答信号的清晰度和强度/质量

零足迹测试仪

 

该系统通过铰链机械手与晶圆探测器对接,提供真正的零足迹解决方案,在测试资源和被测器件之间实现无电缆的直接连接:始终保证最佳信号完整性

易于使用且功能强大的软件

 

得益于 VRAD(非常快速的应用程序开发)和 AutoDebug 功能,ATOS C2 智能卡操作系统可通过简单的方式开发和调试测试程序。

图形用户界面和使用的算法让软件功能便捷易用。测试工程师还可以通过直观的手动输入技术对系统进行初级编程。得益于基于系列测试库的结构,自动测试程序生成非常快。

SPEA ATOS C2 - Operating system - SPEA

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