识别器件最终测试仪

CT1000 识别器件最终测试仪
适用于 CPU、内存、RFID、NFC、UHF 器件。

CT1000 旨在满足使用标准或定制协议的智能卡模块(接触式、非接触式和双接口) RFID 器件的所有测试要求。这种高度可配置和可扩展的测试仪可以快速执行所有测试,满足当今和未来器件的参数和功能测试要求。单一平台,可完整覆盖所有测试。

准备就绪,可测试所有您的智能卡模块

CT1000 系统能够测试接触式和非接触式智能卡模块,还可以测试双接口器件(将接触式和非接触式卡芯片集成在一个模块中)。

CT1000 测试仪是开放且可配置的,可测试智能卡模块上使用的任何类型的通信协议,并针对新技术进行更新。

该系统可以测试使用通用标准协议(如 as ISO 18000, EPC Global Gen 2, ISO 14443, ISO 15693, MIFARETM, DESFIRETM, FeliCaTM, ISO 11784/85, ICodeTM, HitagTM, ISO 7816, ISO 7813)的器件,并已准备就绪,可测试下一代卡协议。

此外,CT1000 系统可通过使用完全由器件制造商定义的定制协议来执行功能检验。

测试时间短,更高精确度

CT1000 的最新技术模拟仪器结合了更短的测试时间与极其精确的测量。

以低成本实现高测试并行度:每个 CT1000 模块可以同时测试 32 个同步或异步器件。此外,CT1000 测试仪设计为并行连接,可以测试超过 32 个站点。

DVM 单元能够对采集的值进行数据处理和数学计算。这可确保测量准确,对单站点或多站点并行测量都不会影响数据交换。

当进行最终测试时,CT1000 测试仪可以连接到 SPEA H1000 卷盘对卷盘处理器或第三方处理器。当进行晶圆测试时,可通过专用电缆连接到探测器。

测试您所有识别器件应用程序的最佳方法

双接口和接触点

非接触式

膜框架

Wafer - Icon - SPEA

晶圆

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令人惊喜的测试能力

RFID 测试

 

CT1000 的 RFID 频道可以并行执行极其准确可靠的电容和逆调制指数测量。这些频道可对被测器件执行通信协议的实时编码和解码。

每个频道还配备了一个可编程逻辑单元,对被测器件的通信协议进行真正的并行解码,从而对内部模块结构进行完整的功能测试。这些频道还配备了 DSP,可进行完全编程以测试定制协议。

  • LF / HF 测试频率:125kHz – 13.56MHz
  • UHF 频测试频率:800 MHz – 1 GHz

CT1000 可以配备 SAM 接口模块,在 RFID 器件测试期间确保最先进的安全级别。

电容和阻抗测量

 

CT1000 系统可以执行精确的电容和阻抗测量,在接触 RFID 焊盘时验证智能卡模块通信信号。这样,就可以在组装卡之前测试器件的正常工作,从而发现在最终测试时无法识别但在器件使用过程中不可避免地会导致故障的缺陷

带或者不带的天线RFID器件测试

 

CT1000 测试仪可以检验非接触式 RFID 器件的实际工作情况。该系统可以配备或不配备天线,以通过无线电从 RFID 标签读取和写入数据,从而生成可编程的磁场。

开路 / 短路 / 漏电

 

为保证测试结果的可靠性、一致性和可重复性,CT1000 可进行开路、短路、漏电等初步测试,检验接触是否正确。

最终测试

 

CT1000 系统测试智能卡通信条件依据的是通用标准协议(ISO 18000, EPC Global Gen 2, ISO 14443, ISO 15693, MIFARETM, DESFIRETM, FeliCaTM, ISO 11784/85, ICodeTM, HitagTM, ISO 7816, ISO 7813)。CT1000 可以测量逆调制指数,以评估被测组件提供的应答信号的清晰度和强度/质量

器件表征

 

CT1000 系统可用于表征器件参数,使用专用的表征软件工具。提供功能数据分析器(SCDA Smart Card Data Analyzer)和波形绘图工具。

易于使用且功能强大的软件

 

得益于 VRAD(非常快速的应用程序开发)和 AutoDebug 功能,ATOS C2 智能卡操作系统可通过简单的方式开发和调试测试程序。

图形用户界面和使用的算法让软件功能便捷易用。测试工程师还可以通过直观的手动输入技术对系统进行初级编程。得益于基于系列测试库的结构,自动测试程序生成非常快。

SPEA ATOS C2 - Operating system - SPEA

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