ID设备最终测试仪
CT1000

CPU、内存、射频识别、超高频设备

主要特点

 

  • 最多80个并行测试设备
  • 用于接触式、非接触式、双接口、超高频
  • 对加密非接触式设备的SAM支持
  • 参数和功能测试
  • 智能卡设备系列套件编辑器

随时可对所有智能卡模块进行测试

 

CT1000系统可以测试接触式和非接触式智能卡模块,也可以测试双接口设备(将接触式和非接触式卡芯片集成在单个模块中)。

 

开放的且可配置的CT1000测试仪,可以对智能卡模块所使用的任何通信协议进行测试,并针对新技术进行更新。该系统不仅可以对使用通用标准协议(如ISO 18000、EPC Global Gen 2、ISO 14443、ISO 15693、Mifare™、Desfire™、Felica™、ISO 11784/85、ICode™、Hitag™、ISO 7816、ISO 7813)的设备进行测试,还能测试下一代智能卡协议。

 

此外,CT1000系统可以使用完全由设备制造商定义的协议来进行功能验证。

RFID测试

CT1000射频识别通道可以对阻抗、反向调制指数、FDT时间进行非常精确和可靠的并行测量。

该通道可以对被测设备的通信协议进行实时编码和解码。

每个通道还配有一个控制器,可对被测设备的通信协议进行真正的并行解码,从而对内部模块结构进行完整的功能测试。

多站点并行测试

CT1000测试仪可以以较低的成本进行高度并行测试:每个CT1000模块可以并行测试32个同步或异步设备。

此外,CT1000测试仪的设计目的是用于平行连接,

使其可以测试32个以上的站点。

当进行最终测试时,该测试仪可以连接到SPEA H1000 卷盘对卷盘处理器或第三方处理器。当进行晶片测试时,该测试仪可以通过专用电缆连接到探针上。

超精密测量用时短

CT1000的最新技术模拟仪器可缩短测试时间,并进行非常精确的测量。

DVM单元能够对所获得的数值进行数据处理和数学计算。这样,即可以确保精确测量,又不会影响单站点或多站点并行测量的数据交换。

测试能力

  • 开路/短路/泄漏初步测试
  • 电容和阻抗测量
  • 设备特性
  • 最终测试
  • 有/无天线射频识别设备测试
  • 信号清晰度和强度

测试程序生成和调试<1天

 

  • 易于操作&功能强大的软件
  • 射频识别信号形状图
  • 信号查看器和数据分析器
  • 智能卡测试功能库
  • 调试软件
  • 生产软件
设备

Combi设备(接触式+非接触式)

非接触式设备

射频识别

Wafer

双重接口& 联系

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