Probador de wafers para NFC, CPU, memoria, RFID

El probador de wafers CT3000
El mayor recuento de pines en pruebas de wafers de dispositivos ID

El CT3000 es la nueva solución con plataforma de prueba de wafers para dispositivos de identificación, seguridad y de comunicación de campo próximo. Este probador escalable, reconfigurable y flexible cumple los requisitos actuales y futuros, proporcionando un recuento elevado de pines y recursos específicos para pastillas, para obtener un tiempo de prueba breve y reducir el costo total de la prueba.

Preparado para probar todos sus módulos de tarjetas inteligentes

 

Los probadores CT3000 son abiertos y configurables para probar cualquier clase de protocolos de comunicación, usados en tarjetas inteligentes, y para actualizarse con las nuevas tecnologías.

Los sistemas pueden probar dispositivos basados en protocolos estándares comunes (tales como ISO 18000, EPC Global Gen 2, ISO 14443, ISO 15693, MIFARETM, DESFIRETM, FeliCaTM, ISO 11784/85, ICodeTM, HitagTM, ISO 7816) y, asimismo, pueden efectuar verificaciones de funcionalidad usando también protocolos personalizados, completamente definidos por el fabricante del dispositivo.

Mejor rendimiento con el recuento mayor de pines

 

Los probadores CT3000 pueden probar hasta 416 dispositivos síncronos o asíncronos en paralelo, ofreciendo el recuento mayor de pines en las pruebas de dispositivos RFID a nivel de wafer (256 dispositivos en paralelo).

Recursos específicos asíncronos para el dispositivo sometido a prueba permiten efectuar una prueba asíncrona verdadera, con medición estática o dinámica para pastillas.

Un tiempo de prueba breve para una precisión ultra

 

Los equipos analógicos con la última tecnología del CT3000 conjugan la reducción del tiempo de prueba con mediciones sumamente precisas.

Las unidades DVM realiza el tratamiento de datos y cálculos matemáticos sobre los valores adquiridos. Lo cual garantiza mediciones precisas sin perjudicar el cruce de datos para mediciones de un solo sitio o de varios sitios en paralelo.

La mejor forma de probar todas sus aplicaciones de dispositivos ID

RFID

Smart Card

Doble interfaz

NFC

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Capacidades de prueba superiores para garantizar las mejores prestaciones

Prueba RFID

 

Los canales RFID del CT3000 pueden efectuar, en paralelo, mediciones sumamente precisas y fiables de impedancia, índice de modulación trasera, tiempo FDT. Los canales realizan la codificación y descodificación en tiempo real del protocolo de comunicación para el dispositivo sometido a prueba.

Asimismo, cada canal está equipado con un controlador, para descodificar verdaderamente en paralelo el protocolo de comunicación del dispositivo sometido a prueba y, de este modo, se llevan a cabo las pruebas funcionales completas de la estructura del módulo interno. Los canales están equipados con CPU específicas, que permiten la plena programación para probar protocolos personalizados. El rango de frecuencia de prueba está comprendido entre 125kHz y 15MHz (LF/HF).

Prueba de dispositivos pasivos

 

El CT3000 puede comprobar la presencia de dispositivos pasivos, tales como condensadores, resistencias, resonadores.

Pruebas de abierto / cortocircuito / fuga

 

Con el fin de garantizar la fiabilidad, coherencia y reproducibilidad de los resultados de las pruebas, el CT3000 puede efectuar pruebas de abierto, cortocircuito y fuga, y comprobar la corrección del contacto.

Medición de impedancia

 

El CT3000 puede efectuar la medición de impedancia del dispositivo de entrada precisa, antes de la comprobación de las señales de comunicación del módulo de la tarjeta inteligente cuando las almohadillas RFID se ponen en contacto.

De esta forma, se puede probar el funcionamiento correcto del dispositivo antes de ensamblar las tarjetas, y detectar defectos que no se podrían identificar al final de la prueba, pero que causarían, inevitablemente, el funcionamiento incorrecto durante el uso del dispositivo.

Nitidez y fuerza de la señal

 

El CT3000 puede medir el índice de modulación trasera, para evaluar la nitidez y fuerza / calidad de la señal de respuesta proporcionada por el componente sometido a prueba.

Probador de huella cero

 

El sistema está acoplado al probador de wafers con un manipulador de bisagra, ofreciendo una verdadera solución de huella cero junto con el beneficio de una conexión directa y sin cables entre los recursos de prueba y el dispositivo sometido a prueba: la mejor integridad de la señal queda siempre garantizada.

Fácil de usar y software potente

 

El sistema operativo ATOS C2 Smart Card permite el desarrollo y la solución de problemas en programas de prueba en un modo simple, mediante el VRAD (Desarrollo muy rápido de aplicaciones) y la función AutoDebug.

La interfaz gráfica de usuario y los algoritmos empleados permiten que sea rápido y fácil usar las funciones del software. Los ingenieros de las pruebas también pueden programar el sistema en un nivel bajo, mediante técnicas intuitivas de introducción manual. La generación de programas de prueba automática es muy rápida gracias a las estructuras basadas en las librerías de prueba de familias.

SPEA ATOS C2 - Operating system - SPEA

Descubra cómo el CT3000 puede mejorar sus prestaciones y eficiencia en las pruebas

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