Dispositivos de ID
Tester de wafers
CT3000

TEST DE WAFER de NFC, CPU, MEMORIA, dispositivos RFID

Características importantes

 

  • Hasta 416 dispositivos testeados en paralelo
  • NFC de contacto, sin contacto, doble interfaz
  • Protocolos personalizados soportados
  • Tests paramétrico y funcional
  • Editor de suite de familia de dispositivos de tarjeta inteligente

El mayor multisitio en un tester de huella cero

 

Los testers CT3000 pueden testear hasta 416 dispositivos síncronos o asíncronos en paralelo, ofreciendo el mayor número de pines en los tests de dispositivos RFID a nivel de wafer (256 dispositivos en paralelo).

El sistema está acoplado al probador de wafers con un manipulador de bisagra, ofreciendo una verdadera solución de huella cero junto con el beneficio de una conexión directa y sin cables entre los recursos de test y el dispositivo bajo test: la mejor integridad de la señal siempre está garantizada.

Los recursos dedicados asíncronos por dispositivos bajo test permiten un verdadero test asíncrono, con medición estática o dinámica por microplaqueta.

Test RFID

Los canales RFID CT3000 pueden realizar, en paralelo, mediciones de impedancia extremadamente precisas y fiables, índice de modulación retroactiva, tiempo FDT.

Los canales realizan la codificación y decodificación en tiempo real del protocolo de comunicación para el dispositivo bajo test.

Cada canal también está equipado con un regulador, para decodificar en verdadero paralelo el protocolo de comunicación del dispositivo bajo test, y así realizar tests funcionales completos de la estructura interna del módulo.

Los canales están equipados con CPU dedicadas, lo que permite una programación completa para testear protocolos personalizados.

El rango de frecuencia de test es desde 125 kHz hasta 15 MHz (LF/HF).

Listo para testear todos tus módulos de tarjeta inteligente

Los testers CT3000 son abiertos y configurables para testear cualquier tipo de protocolos de comunicación utilizados en tarjetas inteligentes y para ser actualizados para nuevas tecnologías.

Los sistemas pueden testear dispositivos basados en los protocolos estándar comunes (como ISO 18000, EPC Global Gen 2, ISO 14443, ISO 15693, MIFARE™, DESFIRE™, FeliCa™, ISO 11784/85, ICode™, Hitag™, ISO 7816), aunque pueden realizar verificaciones de funcionalidad también mediante el uso de protocolos personalizados, completamente definidos por el fabricante del dispositivo.

Breve tiempo de test por una medición de ultra precisión

La instrumentación analógica de última tecnología de CT3000 combina la reducción del tiempo de test con mediciones extremadamente precisas.

Las unidades DVM son capaces de tratamiento de datos y cálculos matemáticos sobre los valores adquiridos. Esto garantiza mediciones precisas sin comprometer el intercambio de datos para mediciones paralelas de un solo sitio o multisitio.

Capacidades de test

  • Test preliminares Abierto/Breve/Fuga
  • Medida de impedancia
  • Test de dispositivos pasivos
  • Comandos únicos o condicionamiento de comandos para
  • dispositivos RFID
  • Claridad e intensidad de las señales

Generación y depuración del programa de test < 1 día

 

  • Entorno de programación fácil de aprender
  • Generación del programa de test guiada
  • La generación automática de códigos reduce drásticamente el tiempo necesario para desarrollar, depurar y lanzar el programa
  • Importación automática de datos
  • Bibliotecas de instrucciones orientadas al DUT y orientadas al instrumento
  • Mapa de DUT
  • Desarrollo de aplicaciones muy rápido
  • Analizador de resultados de test
  • Shmoo Plot
  • Fácil de realizar. Fácil de seguir. Fácil de mantener.
Dispositivos

NFC

Dual Interface

Smart Card

RFID

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