Tester de señales mixtas analógicas
Tester de semiconductores de potencia
Tester de ID Tester de wafers
Pick & Place Manejador de tests
Manejadores en carretes
Célula de test del módulo de potencia
Célula de test de MEMS
Celdas de prueba KGD
Tester de tarjetas inteligentes & ID
Comprobador de wafer de dos caras
Test de los Semiconductores
Capacidades de medición superiores.
Al menor coste del test.
SPEA sirve a los grandes IDM y OSAT de semiconductores con el equipo de alto rendimiento y más económico para testear automoción, SoC, dispositivos de señales mixtas analógicas, sensores y actuadores MEMS, de potencia y discretos, dispositivos de identificación, entregando mayores capacidades de medición, menor coste de test y tiempo más rápido de comercialización.
Automoción, Lineal,
Señal analógica mixta & SoC
Los dispositivos de señales mixtas por automoción y de alto rendimiento requieren la instrumentación más avanzada y potente, a fin de entregar soluciones de test de calidad y económicas para este mercado tan exigente.
La plataforma DOT y los sistemas C600MX de SPEA satisfacen las necesidades actuales y futuras del plan de acción.
Potencia & discretos
Las aplicaciones tales como los vehículos eléctricos e híbridos, la energía solar fotovoltaica, la energía eólica, están incrementando la importancia de los IGBT, MOSFET y los módulos de potencia dentro del mercado de semiconductores.
Las plataformas DOT800 y C430MX provean instrumentación que está diseñada expresamente para responder a los requisitos de test de estos dispositivos, realizando mediciones estáticas y dinámicas con rangos extendidos de corriente/voltaje.
MEMS & Sensores
El mercado de los MEMS está experimentando un crecimiento exponencial: las aplicaciones de MEMS se distribuyen en todo tipo de dispositivos, desde consumidores hasta la automoción y las aplicaciones médicas e industriales.
La plataforma DOT reduce aún más el precio de venta promedio y los costes de producción de estos dispositivos, cuyos volúmenes de producción están creciendo significativamente.
Identificación
Las NFC, las tarjetas inteligentes y los dispositivos de identificación están presionando la solicitud de una fuerte reducción de los costes de test de estos productos. SPEA CT1000 y CT3000 son sistemas de test de bajo coste dedicados a micro-reguladores, RFID, UHF y dispositivos combinados.
Ellos realizan mediciones completas y altamente precisas, que ofrecen alto rendimiento, con una alta capacidad de test multisitio en los tests de wafers y una transferencia de datos rápida para el test de memoria.
Placa de carga & tarjeta de sonda
Los testers de sondas móviles SPEA son sin fixtures, equipos programables, capaces de testear placas de carga, tarjetas de sonda y placas electrónicas con la misma configuración de la máquina. Pueden testear productos tan grandes como un metro cuadrado, hasta 30 kg de peso, mientras que pueden contactar de manera fiable y blanda los puntos más pequeños (50 μm, o incluso menos).
Los probadores móviles SPEA pueden aportar grandes ventajas sobre la práctica tradicional de realizar una secuencia de diagnóstico de placas de carga directamente en el tester de IC: el test se realiza en una décima parte del tiempo, mientras que los diagnósticos precisos reducen el tiempo de reparación a unos pocos minutos. Además, la mayor capacidad de detección de fallas produce menos fallas en el campo.
