TEST DE LOS SEMICONDUCTORES

Capacidades de medición superiores.
Al menor coste del test.

SPEA sirve a los grandes IDM y OSAT de semiconductores con el equipo de alto rendimiento y más económico para testear automoción, SoC, dispositivos de señales mixtas analógicas, sensores y actuadores MEMS, de potencia y discretos, dispositivos de identificación, entregando mayores capacidades de medición, menor coste de test y tiempo más rápido de comercialización.

Automoción, Lineal, Señal analógica mixta & SoC

Automoción, Lineal,
Señal analógica mixta & SoC

Los dispositivos de señales mixtas por automoción y de alto rendimiento requieren la instrumentación más avanzada y potente, a fin de entregar soluciones de test de calidad y económicas para este mercado tan exigente.

La plataforma DOT y los sistemas C600MX de SPEA satisfacen las necesidades actuales y futuras del plan de acción.

MEMS & sensores

MEMS & sensores

El mercado de los MEMS está experimentando un crecimiento exponencial: las aplicaciones de MEMS se distribuyen en todo tipo de dispositivos, desde consumidores hasta la automoción y las aplicaciones médicas e industriales.

La plataforma DOT reduce aún más el precio de venta promedio y los costes de producción de estos dispositivos, cuyos volúmenes de producción están creciendo significativamente.

Potencia
& discretos

Potencia & discretos

Las aplicaciones tales como los vehículos eléctricos e híbridos, la energía solar fotovoltaica, la energía eólica, están incrementando la importancia de los IGBT, MOSFET y los módulos de potencia dentro del mercado de semiconductores.

Las plataformas DOT800 y C430MX provean instrumentación que está diseñada expresamente para responder a los requisitos de test de estos dispositivos, realizando mediciones estáticas y dinámicas con rangos extendidos de corriente/voltaje.

El nivel de rendimiento viene junto con medidas de seguridad y protecciones, como las capacidades de detección de picos, alarmas kelvin, circuitos de protección, destinados a garantizar la seguridad absoluta para los operadores, los DUT y el sistema de test en sí.

Identificación

Identificación

Las NFC, las tarjetas inteligentes y los dispositivos de identificación están presionando la solicitud de una fuerte reducción de los costes de test de estos productos. SPEA CT1000 y CT3000 son sistemas de test de bajo coste dedicados a micro-reguladores, RFID, UHF y dispositivos combinados.

Ellos realizan mediciones completas y altamente precisas, que ofrecen alto rendimiento, con una alta capacidad de test multisitio en los tests de wafers y una transferencia de datos rápida para el test de memoria.

Placa de carga & tarjeta de sonda

Placa de carga & tarjeta de sonda

Tests de placa de carga automática y de tarjetas de sonda con diagnósticos a nivel de componentes.

Los testers de sondas móviles SPEA son sin fixtures, equipos programables, capaces de testear placas de carga, tarjetas de sonda y placas electrónicas con la misma configuración de la máquina. Pueden testear productos tan grandes como un metro cuadrado, hasta 30 kg de peso, mientras que pueden contactar de manera fiable y blanda los puntos más pequeños (50 μm, o incluso menos).

Los probadores móviles SPEA pueden aportar grandes ventajas sobre la práctica tradicional de realizar una secuencia de diagnóstico de placas de carga directamente en el tester de IC: el test se realiza en una décima parte del tiempo, mientras que los diagnósticos precisos reducen el tiempo de reparación a unos pocos minutos. Además, la mayor capacidad de detección de fallas produce menos fallas en el campo.

Design & Code by dsweb.lab
Solicitud de Información