CT3000 è la nuova piattaforma di test per wafer di dispositivi di identificazione, sicurezza e Near Field Communication. Questo tester scalabile, riconfigurabile e flessibile è in grado di soddisfare le esigenze attuali e future, fornendo un elevato numero di pin e risorse dedicate per ciascun die, al fine di ottenere brevi tempi di collaudo e ridurre il costo complessivo del test.
Pronti a testare tutti i moduli di smart card
I tester CT3000 sono aperti e configurabili per testare qualsiasi tipo di protocollo di comunicazione utilizzato nelle smart card e per essere aggiornati con le più nuove tecnologie.
I sistemi sono in grado di testare dispositivi basati sui comuni protocolli standard (come ISO 18000, EPC Global Gen 2, ISO 14443, ISO 15693, MIFARETM, DESFIRETM, FeliCaTM, ISO 11784/85, ICodeTM, HitagTM, ISO 7816) e possono verificare la funzionalità anche su dispositivi basati su protocolli personalizzati, completamente definiti dal produttore.
Massima produttività con il più elevato pin count
I tester CT3000 possono testare fino a 416 dispositivi in parallelo, in modalità sincrona o asincrona, offrendo il più alto numero di pin per il test dei dispositivi RFID a livello di wafer (256 dispositivi in parallelo).
Le risorse asincrone dedicate per ciascun dispositivo da collaudare consentono di eseguire test realmente asincroni, con misure statiche o dinamiche per die.
Brevi tempi di collaudo, estrema accuratezza
La strumentazione analogica di ultima generazione del CT3000 combina la riduzione dei tempi di collaudo con misure estremamente accurate.
Le unità DVM sono in grado di elaborare i dati e di eseguire calcoli matematici sui valori acquisiti. Ciò garantisce misure accurate senza compromessi nel tempo richiesto per lo scambio di dati in caso di misure in parallelo, siano queste single-site o multi-site.
Il modo migliore per testare i dispositivi ID
RFID
Smart Card
Doppia interfaccia
NFC
Le più elevate capacità di collaudo, per garantire le migliori prestazioni
Test RFID
I canali RFID del CT3000 possono eseguire, in parallelo, misure estremamente accurate e affidabili di impedenza, indice di retro-modulazione, tempo FDT. I canali eseguono la codifica e la decodifica in tempo reale del protocollo di comunicazione per il dispositivo da collaudare.
Ogni canale è inoltre dotato di un controller, per decodificare in vera modalità parallela il protocollo di comunicazione del dispositivo, eseguendo così un test funzionale completo della struttura interna del modulo. I canali sono inoltre dotati di CPU dedicate, che consentono una completa programmabilità per testare protocolli personalizzati. La gamma di frequenza di test va da 125kHz a 15MHz (LF/HF).
Test di dispositivi passivi
Il CT3000 può verificare la presenza di dispositivi passivi, come condensatori, resistenze, risonatori.
Open / Short / Leakage
Per garantire l’affidabilità, la coerenza e la riproducibilità dei risultati del test, il CT3000 è in grado di eseguire test preliminari quali test di open, cortocircuito e leakage e di verificare la correttezza dei contatti.
Misure di impedenza
Il CT3000 è in grado di eseguire misure accurate dell’impedenza di ingresso dei dispositivi, prima di verificare i segnali di comunicazione del modulo smart card al momento della contattazione dei pad RFID.
In questo modo, è possibile testare il corretto funzionamento del dispositivo prima dell’assemblaggio nelle schede, rilevando difetti che non verrebbero identificati nel test finale, ma che inevitabilmente causerebbero malfunzionamenti durante l’utilizzo del dispositivo.
Chiarezza e potenza del segnale
Il CT3000 è in grado di misurare l’indice di retro-modulazione, per valutare la chiarezza e la potenza/qualità del segnale di risposta fornito dal componente da collaudare.
Tester a zero ingombro
Il sistema viene collegato al wafer prober con un hinge manipulator, che offre una vera soluzione a zero footprint insieme al vantaggio di una connessione diretta, senza cavi, tra le risorse di test e il dispositivo da collaudare, per garantire la migliore integrità del segnale.
Software performante e di facile utilizzo
Il sistema operativo ATOS C2 Smart Card consente lo sviluppo e il debug di programmi di test in modo semplice, grazie alle funzionalità di VRAD (Very Rapid Application Development) e AutoDebug.
L’interfaccia grafica e gli algoritmi utilizzati rendono facile e veloce l’utilizzo delle funzionalità del software. Gli ingegneri di collaudo possono anche programmare il sistema a basso livello, attraverso tecniche intuitive di inserimento manuale di dati e parametri. La generazione automatica del test program è molto veloce, grazie a strutture basate su librerie di test per famiglie di device.
