Wafer Tester für NFC, CPU, Speicher, RFID

CT3000 Wafer Tester
Höchste Pin-Anzahl im ID-Bauteil-Wafertest

CT3000 ist die neue Wafer Testplattform-Lösung für Erkennungs-, Sicherheits- und Nahfeld-Kommunikationsgeräte. Dieser skalierbare, rekonfigurierbare und flexible Tester kann aktuelle und zukünftige Anforderungen erfüllen und bietet eine hohe Pin-Anzahl und spezielle Ressourcen pro Chip, um eine kurze Testzeit zu erreichen und die Gesamttestkosten zu senken.

Einsatzbereit zum Testen all Ihrer Smart-Card-Module

 

CT3000-Tester sind offen und konfigurierbar, um jede Art von Kommunikationsprotokollen zu testen, die auf Smart-Cards verwendet werden, und um für neue Technologien aktualisiert zu werden.

Die Systeme können Bauteile auf der Grundlage der gängigen Standardprotokolle (wie ISO 18000, EPC Global Gen 2, ISO 14443, ISO 15693, MIFARETM, DESFIRETM, FeliCaTM, ISO 11784/85, ICodeTM, HitagTM, ISO 7816) testen, während sie auch Funktionsprüfungen unter Verwendung kundenspezifischer Protokolle durchführen können, die vollständig vom Gerätehersteller definiert werden.

Bester Durchsatz bei höchster Pin-Anzahl

 

CT3000-Tester können bis zu 416 synchrone oder asynchrone Bauteile parallel testen und bieten die höchste Pin-Anzahl beim Testen von RFID-Bauteilen auf Wafer-Ebene (256 Bauteile parallel).

Asynchrone spezielle Ressourcen pro zu testendem Bauteil ermöglichen echte asynchrone Tests mit statischen oder dynamischen Messungen pro Chip.

Kurze Testzeit für höchste Genauigkeit

 

Die analoge Instrumentierung des CT3000 mit der neuesten Technologie kombiniert eine Reduzierung der Testzeit mit extrem genauen Messungen.

Die DVM-Einheiten sind in der Lage, Daten zu verarbeiten und mit den erfassten Werten mathematische Berechnung durchzuführen. Dies gewährleistet genaue Messungen ohne Kompromisse beim Datenaustausch, sowohl bei parallelen Messungen an einer Site als auch an mehreren Sites.

Der beste Weg, um alle Anwendungen Ihrer ID-Bauteile zu testen

RFID

Smart-Card

Dual-Schnittstelle

NFC

scopri di più

Beste Testmöglichkeiten, um die beste Leistung zu garantieren

RFID-Test

 

Die RFID-Kanäle von CT3000 können parallel extrem genaue und zuverlässige Messungen von Impedanz, Retro-Modulationsindex und FDT-Zeit durchführen. Die Kanäle führen die Echtzeit-Codierung und -Decodierung des Kommunikationsprotokolls für das zu testende Gerät durch.

Jeder Kanal ist außerdem mit einem Controller ausgestattet, der das Kommunikationsprotokoll des zu testenden Geräts parallel dekodiert und es ermöglicht, eine vollständige Funktionsprüfung der internen Modulstruktur durchzuführen. Die Kanäle sind mit speziellen CPUs ausgestattet, die eine volle Programmierbarkeit für das Testen von kundenspezifischen Protokollen erlauben. Der Testfrequenzbereich beträgt 125 kHz bis 15 MHz (LF/HF).

Testen von passiven Bauteilen

 

CT3000 kann das Vorhandensein von passiven Bauteilen wie Kondensatoren, Widerständen und Resonatoren überprüfen.

Unterbrechung / Kurzschluss / Leckage

 

Um die Zuverlässigkeit, Konsistenz und Reproduzierbarkeit der Testergebnisse zu gewährleisten, kann CT3000 Vorprüfungen wie Unterbrechungs-, Kurzschluss- und Leckagetests durchführen und die Korrektheit der Kontakte verifizieren.

Impedanzmessung

 

CT3000 kann die genaue Impedanzmessung des Eingangsbauteils durchführen, bevor die Kommunikationssignale des Smart-Card-Moduls überprüft werden, wenn die RFID-Pads kontaktiert werden.

Auf diese Weise ist es möglich, die korrekte Funktionsweise des Bauteils zu testen, bevor es in die Cards eingebaut wird, und Fehler zu entdecken, die beim Endtest nicht erkannt werden, aber bei der Verwendung des Bauteils unweigerlich zu Fehlfunktionen führen würden.

Klarheit und Stärke der Signale

 

CT3000 kann den Retro-Modulationsindex messen, um die Klarheit und Stärke/Qualität des Antwortsignals zu bewerten, das von der zu testenden Komponente bereitgestellt wird.

Null-Fußabdruck-Tester

 

Das System wird mit einem Scharniermanipulator an den Wafer Prober angedockt und bietet eine echte Null-Fußabdruck-Lösung sowie den Vorteil einer direkten, kabellosen Verbindung zwischen den Testressourcen und dem zu testenden Bauteil: beste Signalintegrität ist immer gewährleistet.

Einfach zu bedienende und leistungsstarke Software

 

Das Betriebssystem der ATOS C2 Smart-Card ermöglicht die Entwicklung und das Debugging von Testprogrammen auf einfache Weise, dank der VRAD (Very Rapid Application Development) und der AutoDebug-Funktion.

Die grafische Benutzeroberfläche und die verwendeten Algorithmen gestalten die Nutzung der Softwarefunktionen schnell und einfach. Testingenieure können das System auch auf niedriger Ebene programmieren, und zwar durch intuitive Techniken der manuellen Eingabe. Die automatische Testprogrammgenerierung ist sehr schnell, dank der Strukturen, die auf Familien-Testbibliotheken basieren.

SPEA ATOS C2 - Operating system - SPEA

Entdecken Sie, wie CT3000 Ihre Handling-Leistung und Effizienz steigern kann

Kontaktieren Sie das SPEA-Team
Design & Code by dsweb.lab