CT1000 wurde entwickelt, um alle Testanforderungen von Smart-Card-Modulen (kontaktbehaftet, kontaktlos und Dual-Schnittstelle) und RFID-Bauteilen zu erfüllen, die Standard- oder kundenspezifische Protokolle verwenden. Dieser hochgradig konfigurierbare und skalierbare Tester kann schnell alle Messungen durchführen, um sowohl die parametrischen als auch die funktionalen Prüfanforderungen heutiger und zukünftiger Bauteile zu erfüllen. Eine einzige Plattform für die vollständige Testabdeckung.
Einsatzbereit zum Testen all Ihrer Smart-Card-Module
CT1000-Systeme können sowohl kontaktbehaftete als auch kontaktlose Smart-Card-Module testen und auch Dual-Schnittstellen-Bauteile (die sowohl kontaktbehaftete als auch kontaktlose Kartenchips in einem einzigen Modul integrieren).
CT1000-Tester sind offen und konfigurierbar, um jede Art von Kommunikationsprotokollen zu testen, die auf Smart-Card-Modulen verwendet werden, und um für neue Technologien aktualisiert zu werden.
Die Systeme können Bauteile testen, die die gängigen Standardprotokolle verwenden (wie ISO 18000, EPC Global Gen 2, ISO 14443, ISO 15693, MIFARETM, DESFIRETM, FeliCaTM, ISO 11784/85, ICodeTM, HitagTM, ISO 7816, ISO 7813), und sind bereit, auch die nächste Generation von Kartenprotokollen zu testen.
Darüber hinaus ermöglichen die CT1000-Systeme die Durchführung von Funktionsprüfungen mit Hilfe von kundenspezifischen Protokollen, die vollständig vom Gerätehersteller definiert werden.
Kurze Testzeit für höchste Genauigkeit
Die analoge Messtechnik des CT1000 auf dem neuesten Stand verbindet die Verkürzung der Testzeit mit extrem genauen Messungen.
Hohe Testparallelität wird bei niedrigen Kosten erreicht: Jedes CT1000-Modul kann 32 synchrone oder asynchrone Bauteile gleichzeitig prüfen. Darüber hinaus sind die CT1000-Tester so konzipiert, dass sie parallel geschaltet werden können, um mehr als 32 Sites zu testen.
Die DVM-Einheiten sind in der Lage, Daten zu verarbeiten und mit den erfassten Werten mathematische Berechnungen durchzuführen. Dies gewährleistet genaue Messungen ohne Kompromisse beim Datenaustausch, sowohl bei parallelen Messungen an einer Site als auch an mehreren Sites.
Für den Endtest können die CT1000-Tester an H1000 Reel-to-Reel Handler von SPEA oder an Handler von Drittanbietern angeschlossen werden. Wenn sie für Wafertests verwendet werden, können sie über spezielle Kabel mit dem Prober verbunden werden.
Der beste Weg, um die Anwendungen all Ihrer ID-Bauteile zu testen
Dual-Schnittstelle und Kontakt
Kontaktlos
Filmrahmen
Wafer
Erstaunliche Testmöglichkeiten
RFID-Test
Die RFID-Kanäle des CT1000 können parallel extrem genaue und zuverlässige Messungen der Kapazität und des Retro-Modulationsindex durchführen. Die Kanäle führen die Echtzeit-Codierung und -Decodierung des Kommunikationsprotokolls für den zu testenden Bauteil durch.
Jeder Kanal ist außerdem mit einer programmierbaren Logikeinheit ausgestattet, um das Kommunikationsprotokoll des zu testenden Bauteils parallel zu dekodieren und so eine vollständige Funktionsprüfung der internen Modulstruktur durchzuführen. Die Kanäle sind auch mit DSPs ausgestattet, was eine vollständige Programmierbarkeit für das Testen von kundenspezifischen Protokollen ermöglicht.
- LF/HF-Testfrequenz: 125 kHz – 13,56 MHz
- UHF-Testfrequenz: 800 MHz – 1 GHz
Der CT1000 kann mit einem SAM-Schnittstellenmodul ausgestattet werden, um ein modernes Sicherheitsniveau beim Testen von RFID-Bauteilen zu gewährleisten.
Kapazitäts- und Impedanzmessung
CT1000-Systeme können genaue Kapazitäts- und Impedanzmessungen durchführen, um die Kommunikationssignale des Smart-Card-Moduls zu überprüfen, wenn die RFID-Pads kontaktiert werden. Auf diese Weise ist es möglich, die korrekte Funktionsweise des Bauteils vor dem Zusammenbau der Karte zu testen und Fehler zu entdecken, die beim Endtest nicht erkannt werden, aber bei der Verwendung des Bauteils unweigerlich zu Fehlfunktionen führen würden.
RFID-Bauteiltest mit oder ohne Antenne
CT1000-Tester können die tatsächliche Funktionsweise von kontaktlosen RFID-Bauteilen überprüfen. Das System kann mit oder ohne Antenne ausgestattet werden, um Daten von einem RFID-Tag über Funk zu lesen und zu schreiben, wobei programmierbare Magnetfelder erzeugt werden.
Unterbrechung / Kurzschluss / Leckage
Um die Zuverlässigkeit, Konsistenz und Reproduzierbarkeit der Testergebnisse zu gewährleisten, kann CT1000 Vorprüfungen wie Unterbrechungs-, Kurzschluss- und Leckagetests durchführen und die Korrektheit der Kontakte verifizieren.
Endtest
CT1000-Systeme testen die Kommunikationsbedingungen von Smart-Cards mit den gängigen Standardprotokollen (ISO 18000, EPC Global Gen 2, ISO 14443, ISO 15693, MIFARETM, DESFIRETM, FeliCaTM, ISO 11784/85, ICodeTM, HitagTM, ISO 7816, ISO 7813). CT1000 kann den Retro-Modulationsindex messen, um die Klarheit und Stärke/Qualität des Antwortsignals zu bewerten, das von der zu prüfenden Komponente bereitgestellt wird.
Charakterisierung der Bauteile
CT1000-Systeme können zur Charakterisierung der Bauteileparameter mit Hilfe einer speziellen Charakterisierungssoftware verwendet werden. Ein funktioneller Datenanalysator (SCDA Smart Card Data Analyzer) und ein Werkzeug zum Zeichnen von Wellenformen sind verfügbar
Einfach zu verwendende und leistungsstarke Software
Das Betriebssystem der ATOS C2 Smart Card ermöglicht die Entwicklung und das Debugging von Testprogrammen auf einfache Weise, dank der VRAD (Very Rapid Application Development) und der AutoDebug-Funktion.
Die grafische Benutzeroberfläche und die verwendeten Algorithmen machen die Nutzung der Softwarefunktionen schnell und einfach. Testingenieure können das System auch auf niedriger Ebene programmieren, und zwar durch intuitive Techniken der manuellen Eingabe. Die automatische Testprogrammgenerierung ist sehr schnell, dank der Strukturen, die auf Familien-Testbibliotheken basieren.
