CT1000 è progettato per soddisfare tutti i requisiti di collaudo dei moduli per smart card (a contatto, contactless e a doppia interfaccia) e dei dispositivi RFID, che utilizzano protocolli standard o personalizzati. Questo tester altamente configurabile e scalabile è in grado di eseguire rapidamente tutte le misure parametriche e i test funzionali dei dispositivi di oggi e di domani. Un’unica piattaforma, per una copertura diagnostica completa.
Pronto a collaudare tutti i moduli per smart card
I sistemi CT1000 sono in grado di testare moduli di smart card sia a contatto che contactless, inclusi i dispositivi a doppia interfaccia (che integrano chip di carte sia a contatto che contactless in un unico modulo).
I tester CT1000 sono aperti e configurabili per collaudare qualsiasi tipo di protocollo di comunicazione utilizzato nei moduli di smart card e per essere aggiornati con le più recenti tecnologie.
I sistemi sono in grado di testare i dispositivi che utilizzano i comuni protocolli standard (come ISO 18000, EPC Global Gen 2, ISO 14443, ISO 15693, MIFARETM, DESFIRETM, FeliCaTM, ISO 11784/85, ICodeTM, HitagTM, ISO 7816, ISO 7813) e sono pronti a collaudare anche i protocolli di nuova generazione.
Inoltre, i sistemi CT1000 consentono di eseguire verifiche di funzionalità utilizzando protocolli personalizzati, completamente definiti dal produttore del dispositivo.
Il collaudo più rapido e accurato
La strumentazione analogica di ultima generazione del CT1000 combina la riduzione dei tempi di collaudo con misure estremamente accurate.
L’elevata capacità di collaudo in parallelo è realizzata a basso costo: ogni modulo CT1000 può testare simultaneamente 32 dispositivi sincroni o asincroni. Inoltre, i tester CT1000 sono progettati per essere collegati in parallelo, al fine di testare più di 32 dispositivi simultaneamente.
Le unità DVM sono in grado di elaborare i dati e di eseguire calcoli matematici sui valori acquisiti. Ciò garantisce misure accurate senza impattare sul tempo necessario per lo scambio di dati, in caso di misure in parallelo sia single-site che multi-site.
Se utilizzati per il test finale, i CT1000 possono essere collegati agli Handler Reel-to-Reel H1000 di SPEA o a handler di terze parti. Se utilizzati per il test di wafer, possono essere collegati al prober tramite cavi dedicati.
Il modo migliore per testare i dispositivi ID
Doppia interfaccia e contatto
Contactless
Film Frame
Wafer
Eccezionali capacità di collaudo
Test RFID
I canali RFID del CT1000 possono eseguire, in parallelo, misure estremamente accurate e affidabili della capacità e dell’indice di retro-modulazione. I canali eseguono la codifica e la decodifica in tempo reale del protocollo di comunicazione per il dispositivo da collaudare.
Ogni canale è inoltre dotato di un’unità logica programmabile, per decodificare in parallelo il protocollo di comunicazione del dispositivo, eseguendo così un test funzionale completo della struttura interna del modulo. I canali sono inoltre dotati di DSP, che consentono una completa programmabilità per testare protocolli personalizzati.
- Frequenza test LF/HF: 125kHz ÷ 13,56MHz
- Frequenza test UHF: 800 MHz ÷ 1 GHz
Il CT1000 può essere dotato di un modulo di interfaccia SAM, per un livello di sicurezza all’avanguardia durante il test dei dispositivi RFID.
Misura di capacità e impedenza
I sistemi CT1000 sono in grado di eseguire misure accurate di capacità e impedenza, verificando i segnali di comunicazione del modulo smart card al momento della contattazione dei pad RFID. In questo modo, è possibile testare il corretto funzionamento del dispositivo prima dell’assemblaggio della scheda, rilevando difetti che non verrebbero identificati al test finale, ma che inevitabilmente causerebbero malfunzionamenti durante l’utilizzo del dispositivo.
Test di dispositivi RFID con o senza antenna
I tester CT1000 possono verificare l’effettivo funzionamento dei dispositivi RFID. Il sistema può essere dotato o meno di antenna per leggere dati da e scrivere dati su un tag RFID via radio, generando campi magnetici programmabili.
Open / Short / Leakage
Per garantire l’affidabilità, la coerenza e la riproducibilità dei risultati del test, il CT1000 è in grado di eseguire test preliminari quali test di open, cortocircuito e leakage e di verificare la correttezza dei contatti.
Test finale
I sistemi CT1000 testano le condizioni di comunicazione delle smart card con i comuni protocolli standard (ISO 18000, EPC Global Gen 2, ISO 14443, ISO 15693, MIFARETM, DESFIRETM, FeliCaTM, ISO 11784/85, ICodeTM, HitagTM, ISO 7816, ISO 7813). Il CT1000 è in grado di misurare l’indice di retro-modulazione, per valutare la chiarezza e la potenza/qualità del segnale di risposta fornito dal componente da collaudare.
Caratterizzazione dei dispositivi
I sistemi CT1000 possono essere utilizzati per caratterizzare i parametri del dispositivo, utilizzando uno strumento software di caratterizzazione dedicato. Sono disponibili un analizzatore dei dati funzionali (SCDA Smart Card Data Analyzer) e uno strumento di disegno della forma d’onda.
Software performante e di facile utilizzo
Il sistema operativo ATOS C2 Smart Card consente lo sviluppo e il debug di test program in modo semplice, grazie alle funzionalità VRAD (Very Rapid Application Development) e AutoDebug.
L’interfaccia grafica e gli algoritmi utilizzati rendono facile e veloce l’utilizzo delle funzionalità del software. Gli ingegneri di collaudo possono anche programmare il sistema a basso livello, attraverso tecniche intuitive di inserimento manuale. La generazione automatica di test program è molto veloce, grazie a strutture basate su librerie di test per famiglie di dispositivi.
